12.5 Méthode de Buerger
151
La détermination de la position de I
suppose le calcul de la position des axes de
la maille du réseau réciproque en fonction des indices de la rangée de rotation.
12.4.5 Coordonnées d’une tache sur le film
Soit un nœud réciproque N situé sur la sphère
d’Ewald. Il lui correspond la tache de diffraction M de
la strate p. Le rayon diffracté CM fait l’angle 2u avec
le rayon incident CI. On a aussi :
MH ⊥ HC et MH ⊥ CI.
La distance MH = y p qui sépare la strate p de
la strate équatoriale est caractérisée par l’angle
c (tgc = y p /R).
Sur le film la distance x
est égale à R · j.
De l’égalité vectorielle :
MC = MH + HC
on tire :
MC · CI = MH · CI + HC · CI
MC · R · cos 2 · u = R
2
· cos j
cos 2u = cos c · cos j
´´µ
Figure 12.5
La tache de diffraction d’indices h, k, l appartient à la p
e strate ; on en déduit y P
et c. À partir de la valeur du d hkl de cette tache, on peut en utilisant la relation (4)
déterminer j et la valeur de x
et donc la position de la tache sur le film.
12.4.6 Intérêt de la méthode
La méthode du cristal tournant permet la détermination des paramètres de maille. Par
contre la détermination des angles entre les vecteurs de base à partir de cette seule
méthode n’est pas toujours évidente. Lors de rotations complètes il y a superposition sur le cliché de taches de diffraction qui correspondent à des nœuds réciproques
différents. En outre, la reconstitution du réseau réciproque à partir des clichés de diffraction suppose des constructions géométriques qui peuvent être complexes. C’est
pourquoi d’autres méthodes ont été développées.
12.5 MÉTHODE DE BUERGER
12.5.1 Description de la méthode
Cette méthode permet d’obtenir directement (sans constructions annexes) une représentation non déformée des plans du réseau réciproque du cristal diffracteur. Ceci
151
La détermination de la position de I
suppose le calcul de la position des axes de
la maille du réseau réciproque en fonction des indices de la rangée de rotation.
12.4.5 Coordonnées d’une tache sur le film
Soit un nœud réciproque N situé sur la sphère
d’Ewald. Il lui correspond la tache de diffraction M de
la strate p. Le rayon diffracté CM fait l’angle 2u avec
le rayon incident CI. On a aussi :
MH ⊥ HC et MH ⊥ CI.
La distance MH = y p qui sépare la strate p de
la strate équatoriale est caractérisée par l’angle
c (tgc = y p /R).
Sur le film la distance x
est égale à R · j.
De l’égalité vectorielle :
MC = MH + HC
on tire :
MC · CI = MH · CI + HC · CI
MC · R · cos 2 · u = R
2
· cos j
cos 2u = cos c · cos j
´´µ
Figure 12.5
La tache de diffraction d’indices h, k, l appartient à la p
e strate ; on en déduit y P
et c. À partir de la valeur du d hkl de cette tache, on peut en utilisant la relation (4)
déterminer j et la valeur de x
et donc la position de la tache sur le film.
12.4.6 Intérêt de la méthode
La méthode du cristal tournant permet la détermination des paramètres de maille. Par
contre la détermination des angles entre les vecteurs de base à partir de cette seule
méthode n’est pas toujours évidente. Lors de rotations complètes il y a superposition sur le cliché de taches de diffraction qui correspondent à des nœuds réciproques
différents. En outre, la reconstitution du réseau réciproque à partir des clichés de diffraction suppose des constructions géométriques qui peuvent être complexes. C’est
pourquoi d’autres méthodes ont été développées.
12.5 MÉTHODE DE BUERGER
12.5.1 Description de la méthode
Cette méthode permet d’obtenir directement (sans constructions annexes) une représentation non déformée des plans du réseau réciproque du cristal diffracteur. Ceci