152
12 • Méthode du cristal tournant
permet une détermination immédiate des paramètres de la maille. L’indexation des
taches est également très simple et les extinctions systématiques du plan étudié apparaissent de manière évidente.
Dans cette méthode, on maintient parallèles le plan étudié du réseau réciproque
et le plan du film. Si cette condition est réalisée, on a d’après la figure 12.6 :
I
P
= IP · f/R et en posant R = OI = 1, on obtient la relation suivante :
I
P
= f · IP
Figure 12.6
Dans la méthode de Buerger la figure de diffraction sur le film est homothétique du
plan du réseau réciproque étudié.
Le facteur de proportionnalité f entre le réseau réciproque et l’image sur le film
est maintenu constant en conservant le parallélisme entre le plan du film et le plan
du réseau réciproque. Pour obtenir un rayon diffracté, il est nécessaire d’amener un
nœud réciproque en position de réflexion, c’est-à-dire sur la sphère d’Ewald. Dans
cette méthode, on y parvient en faisant effectuer au plan du réseau réciproque un
mouvement de précession autour de la normale passant par l’origine.
12.5.2 Le plan équatorial
Pendant la rotation du cristal, la normale IN au plan réciproque contenant l’origine I
décrit un cône d’angle r dont l’axe est le faisceau incident ( figure 12.6). Dans ce
mouvement ( figure 12.7), le plan origine coupe la sphère d’Ewald suivant un cercle
C 0 . Si un nœud P du réseau réciproque pénètre dans la sphère d’Ewald, il y a diffraction et le rayon OP frappe le plan du film en Pf. Les taches de diffraction sont donc
situées sur la projection du cercle C 0 sur le film, c’est-à-dire sur un cercle C
0 car le
plan du film est parallèle à C 0 . Les taches de diffraction observables sont contenues
dans le cercle de centre I
de rayon égal à 2 · sin r/l.
Ces taches donnent une image homothétique du réseau réciproque. Sur le film
qui correspond au plan de niveau 0, la mesure des paramètres de réseau est donc
immédiate.
12 • Méthode du cristal tournant
permet une détermination immédiate des paramètres de la maille. L’indexation des
taches est également très simple et les extinctions systématiques du plan étudié apparaissent de manière évidente.
Dans cette méthode, on maintient parallèles le plan étudié du réseau réciproque
et le plan du film. Si cette condition est réalisée, on a d’après la figure 12.6 :
I
P
= IP · f/R et en posant R = OI = 1, on obtient la relation suivante :
I
P
= f · IP
Figure 12.6
Dans la méthode de Buerger la figure de diffraction sur le film est homothétique du
plan du réseau réciproque étudié.
Le facteur de proportionnalité f entre le réseau réciproque et l’image sur le film
est maintenu constant en conservant le parallélisme entre le plan du film et le plan
du réseau réciproque. Pour obtenir un rayon diffracté, il est nécessaire d’amener un
nœud réciproque en position de réflexion, c’est-à-dire sur la sphère d’Ewald. Dans
cette méthode, on y parvient en faisant effectuer au plan du réseau réciproque un
mouvement de précession autour de la normale passant par l’origine.
12.5.2 Le plan équatorial
Pendant la rotation du cristal, la normale IN au plan réciproque contenant l’origine I
décrit un cône d’angle r dont l’axe est le faisceau incident ( figure 12.6). Dans ce
mouvement ( figure 12.7), le plan origine coupe la sphère d’Ewald suivant un cercle
C 0 . Si un nœud P du réseau réciproque pénètre dans la sphère d’Ewald, il y a diffraction et le rayon OP frappe le plan du film en Pf. Les taches de diffraction sont donc
situées sur la projection du cercle C 0 sur le film, c’est-à-dire sur un cercle C
0 car le
plan du film est parallèle à C 0 . Les taches de diffraction observables sont contenues
dans le cercle de centre I
de rayon égal à 2 · sin r/l.
Ces taches donnent une image homothétique du réseau réciproque. Sur le film
qui correspond au plan de niveau 0, la mesure des paramètres de réseau est donc
immédiate.