12.4 Indexation du cliché
149
Sur le film on mesure IQ = y P . On en déduit w P = arctgy P /R et la valeur du paramètre de la rangée de rotation :
n uvw =
p · l
(R 2 + y 2
P )
y P
´½µ
On améliore la précision en considérant les deux strates symétriques de la strate
origine (strate équatoriale) les plus éloignées de celle-ci.
Cette méthode permet la mesure absolue des paramètres des rangées du réseau direct. Elle permet donc la détermination des paramètres de maille.
12.4 INDEXATION DU CLICHÉ
12.4.1 Zone aveugle
La rotation du cristal autour de n uvw entraîne une rotation du réseau réciproque autour
de IN ( figure 12.3). Au cours de cette rotation, seuls les nœuds contenus dans le tore
engendré par la rotation du cercle de centre C et de rayon R autour de IN, vont
pénétrer dans la sphère d’Ewald. Les nœuds situés à l’extérieur de ce tore sont situés
dans la zone aveugle de la chambre.
12.4.2 Relation entre les indices de la rangée de rotation et les indices
des taches de la strate p
Soit une tache de la strate p correspondant à la réflexion sur des plans réticulaires
(hkl). Le nœud hkl du réseau réciproque se trouve donc sur le p
e plan (uvw)
∗ réciproque au-dessus de l’origine. Le vecteur normal à cette famille (uvw)
∗ est le vecteur
du réseau direct : n uvw = u · a + v · b + w · c
De la relation D
∗
uvw · ·n uvw = 1 , on déduit que le vecteur unitaire normal aux plans
(uvw)
∗ est :
n uvw
n uvw
= (u · a + v · b + w · c) · D
∗
uvw
La projection de la rangée [hkl]
∗ sur la normale aux plans (uvw)
∗ vaut p · D
∗
uvw :
(h · A
∗ + k · B
∗ + l · C
∗ ) · (u · a + v · b + w · c) · D
∗
uvw = p · D
∗
uvw
Les indices h, k, l des taches de diffraction de la p
e strate sont liés aux indices u,
v, w de la rangée de rotation par la relation :
h · u + k · v + l · w = p
´¾µ
Si, par exemple, l’axe de rotation est [110] les taches de la strate équatoriale
(p = 0), auront pour indices h, −h, , et celles de la première strate (p = +1) des
indices égaux à h, −h + 1, ,...
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Sur le film on mesure IQ = y P . On en déduit w P = arctgy P /R et la valeur du paramètre de la rangée de rotation :
n uvw =
p · l
(R 2 + y 2
P )
y P
´½µ
On améliore la précision en considérant les deux strates symétriques de la strate
origine (strate équatoriale) les plus éloignées de celle-ci.
Cette méthode permet la mesure absolue des paramètres des rangées du réseau direct. Elle permet donc la détermination des paramètres de maille.
12.4 INDEXATION DU CLICHÉ
12.4.1 Zone aveugle
La rotation du cristal autour de n uvw entraîne une rotation du réseau réciproque autour
de IN ( figure 12.3). Au cours de cette rotation, seuls les nœuds contenus dans le tore
engendré par la rotation du cercle de centre C et de rayon R autour de IN, vont
pénétrer dans la sphère d’Ewald. Les nœuds situés à l’extérieur de ce tore sont situés
dans la zone aveugle de la chambre.
12.4.2 Relation entre les indices de la rangée de rotation et les indices
des taches de la strate p
Soit une tache de la strate p correspondant à la réflexion sur des plans réticulaires
(hkl). Le nœud hkl du réseau réciproque se trouve donc sur le p
e plan (uvw)
∗ réciproque au-dessus de l’origine. Le vecteur normal à cette famille (uvw)
∗ est le vecteur
du réseau direct : n uvw = u · a + v · b + w · c
De la relation D
∗
uvw · ·n uvw = 1 , on déduit que le vecteur unitaire normal aux plans
(uvw)
∗ est :
n uvw
n uvw
= (u · a + v · b + w · c) · D
∗
uvw
La projection de la rangée [hkl]
∗ sur la normale aux plans (uvw)
∗ vaut p · D
∗
uvw :
(h · A
∗ + k · B
∗ + l · C
∗ ) · (u · a + v · b + w · c) · D
∗
uvw = p · D
∗
uvw
Les indices h, k, l des taches de diffraction de la p
e strate sont liés aux indices u,
v, w de la rangée de rotation par la relation :
h · u + k · v + l · w = p
´¾µ
Si, par exemple, l’axe de rotation est [110] les taches de la strate équatoriale
(p = 0), auront pour indices h, −h, , et celles de la première strate (p = +1) des
indices égaux à h, −h + 1, ,...