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10 • Diffraction des rayons X
– C est une constante incluant A
2
él (intensité diffusée par un électron isolé) et l’intensité du rayonnement primaire.
– m est la multiplicité de la raie et correspond au nombre de familles de plans réticulaires équivalents qui donnent la même raie de diffraction.
– L(u) est le facteur de Lorentz qui correspond à la vitesse de passage du nœud
réciproque considéré dans la sphère d’Ewald.
– P(u) est le facteur de polarisation. Ce facteur est égal à (1 + cos
2 2u)/2 pour un
rayonnement primaire non polarisé.
– A est la correction d’absorption par l’échantillon.
– V est le volume de l’échantillon et V le volume de la maille.
– F hkl est le facteur de structure qui fait intervenir :
• Les facteurs de diffusion atomique des atomes du motif, facteurs éventuellement corrigés de la diffusion anomale ;
• Les facteurs de Debye qui dépendent de la température, de la nature des atomes
de la maille et de leurs environnements ;
• Les positions relatives des atomes dans la maille.
Compte-tenu des approximations réalisées dans la détermination de certains des
paramètres, la précision obtenue lors du calcul des intensités diffractées est de l’ordre
de quelques pour cent. Les mesures d’intensité seront des mesures relatives car il est
difficile de déterminer précisément la valeur de la constante C, fonction de l’intensité
du rayonnement primaire.
En conclusion, le diagramme suivant résume la démarche suivie pour l’étude de la
diffraction par les structures cristallines.
10 • Diffraction des rayons X
– C est une constante incluant A
2
él (intensité diffusée par un électron isolé) et l’intensité du rayonnement primaire.
– m est la multiplicité de la raie et correspond au nombre de familles de plans réticulaires équivalents qui donnent la même raie de diffraction.
– L(u) est le facteur de Lorentz qui correspond à la vitesse de passage du nœud
réciproque considéré dans la sphère d’Ewald.
– P(u) est le facteur de polarisation. Ce facteur est égal à (1 + cos
2 2u)/2 pour un
rayonnement primaire non polarisé.
– A est la correction d’absorption par l’échantillon.
– V est le volume de l’échantillon et V le volume de la maille.
– F hkl est le facteur de structure qui fait intervenir :
• Les facteurs de diffusion atomique des atomes du motif, facteurs éventuellement corrigés de la diffusion anomale ;
• Les facteurs de Debye qui dépendent de la température, de la nature des atomes
de la maille et de leurs environnements ;
• Les positions relatives des atomes dans la maille.
Compte-tenu des approximations réalisées dans la détermination de certains des
paramètres, la précision obtenue lors du calcul des intensités diffractées est de l’ordre
de quelques pour cent. Les mesures d’intensité seront des mesures relatives car il est
difficile de déterminer précisément la valeur de la constante C, fonction de l’intensité
du rayonnement primaire.
En conclusion, le diagramme suivant résume la démarche suivie pour l’étude de la
diffraction par les structures cristallines.