CHAPITRE 7 - ETUDE DE CAS
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1.2. Mesure des contraintes superficielles
Les contraintes superficielles sont mesurées'') par diffraction de rayons X (loi des
sin2W à l'aide de la radiation K a du chrome (plans (21 l}, 20 = 156"). Étant donné
la forme hélicoïdale des ressorts on peut effectuer les mesures sur un prélèvement d'un quart de spire (il n'y a pas de relaxation significative lors du découpage). Le diamètre des spires étant de 4 mm, il faut utiliser un faisceau fin de
1 mm et bien repérer le point mesuré (utilisation d'un laser de pointage).
Les spectres de diffraction sont mesurés pour sept valeurs de l'angle Y comprises entre - 45" et + 45".
Tube RX
Compteur
Tube RX
Compteur
Fig. 7.5. Principe de la mesure et definition de l'angle Y.
Les contraintes peuvent être mesurées dans le sens << long >> du fil (cas de la
figure), dans le sens << travers >> ou pour toute direction intermédiaire, le porteéchantillon étant orientable. L a largeur des pics, liée aux microdéformations provoquées par l'écrouissage, est de 3 à 4". Dans le sens << long >> et dans le sens
<< travers B les raies sont symétriques, elles sont asymétriques dans les autres
directions et, par conséquent, il faut utiliser un faisceau X cylindrique. On
balaye u n angle A 0 de 6" afin d'enregistrer la base des raies. Avec un compteur à
scintillation, il faut quatre heures pour déterminer une contrainte ; ce temps
peut être réduit par l'emploi d'un compteur linéaire.
Pour déterminer le profil des contraintes en profondeur, on enlève des
couches successives par dissolution dans l'acide nitrique dilué.
(1) Krier J., Mille P. et Cornet A., Caractérisation par diffraction X des contraintes résiduelles de grenaillage de précontrainte en vue d'augmenter la fiabilité mécanique des ressorts hélicoïdaux, J. Phys. NFrance 0 (1996) 475-480.
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1.2. Mesure des contraintes superficielles
Les contraintes superficielles sont mesurées'') par diffraction de rayons X (loi des
sin2W à l'aide de la radiation K a du chrome (plans (21 l}, 20 = 156"). Étant donné
la forme hélicoïdale des ressorts on peut effectuer les mesures sur un prélèvement d'un quart de spire (il n'y a pas de relaxation significative lors du découpage). Le diamètre des spires étant de 4 mm, il faut utiliser un faisceau fin de
1 mm et bien repérer le point mesuré (utilisation d'un laser de pointage).
Les spectres de diffraction sont mesurés pour sept valeurs de l'angle Y comprises entre - 45" et + 45".
Tube RX
Compteur
Tube RX
Compteur
Fig. 7.5. Principe de la mesure et definition de l'angle Y.
Les contraintes peuvent être mesurées dans le sens << long >> du fil (cas de la
figure), dans le sens << travers >> ou pour toute direction intermédiaire, le porteéchantillon étant orientable. L a largeur des pics, liée aux microdéformations provoquées par l'écrouissage, est de 3 à 4". Dans le sens << long >> et dans le sens
<< travers B les raies sont symétriques, elles sont asymétriques dans les autres
directions et, par conséquent, il faut utiliser un faisceau X cylindrique. On
balaye u n angle A 0 de 6" afin d'enregistrer la base des raies. Avec un compteur à
scintillation, il faut quatre heures pour déterminer une contrainte ; ce temps
peut être réduit par l'emploi d'un compteur linéaire.
Pour déterminer le profil des contraintes en profondeur, on enlève des
couches successives par dissolution dans l'acide nitrique dilué.
(1) Krier J., Mille P. et Cornet A., Caractérisation par diffraction X des contraintes résiduelles de grenaillage de précontrainte en vue d'augmenter la fiabilité mécanique des ressorts hélicoïdaux, J. Phys. NFrance 0 (1996) 475-480.