Chapitre III
Matériel et Méthodes
44
III.7. Analyse des éléments de traces métalliques par La fluorescence à rayons X (XRF)
III.7.1. Présentation de l’appareil
La spectrométrie de fluorescence X est une technique d’analyse élémentaire globale non
destructive permettant d’identifier et de déterminer la plupart des éléments chimiques qui
composent un échantillon. Cette technique peut être utilisée pour des matériaux très variés :
minéraux, céramiques, ciments, métaux, huiles, eau, verres... sous forme solide ou liquide.
Elle permet l’analyse de tous les éléments chimiques du Béryllium (Be) à l’Uranium (U) dans des
gammes de concentrations allant jusqu’à quelques ppm à 100%, avec des résultats précis et surtout
reproductibles (Valérie, 2014).
Les systèmes de spectromètre à fluorescence sont généralement divisés en deux principaux
groupes, suivant le système de détection, en système à dispersion de longueur d'onde (WDXRF)
et en système à dispersion d'énergie (EDXRF) (Valérie, 2014).
Dans le cadre de notre étude on a utilisé la technique EDXRF.
III.7.2. Le principe de fonctionnement de la technique EDXRF
L'échantillon à analyser est placé sous un faisceau de rayons X émis par le tube à rayons X doté
d’une anode en argent. Sous l’effet de ces rayons X, les atomes constituant l’échantillon passent
de leur état fondamental à un état excité instable, les atomes tendent alors à revenir à l’état
fondamental en libérant de l’énergie, sous forme de photons X. Chaque atome, ayant une
configuration électronique propre, va émettre des photons d’énergie propres qui augmente avec
l’augmentation du numéro atomique de l’élément. Cette fluorescence est mesurée avec un
détecteur à dispersion d'énergie en fer de type SDD (Silicon Drift Detector) et les résultats sont
affichés sur un ordinateur relié à l’appareil (Valérie, 2014).
Schéma III-3: Principe de fonctionnement d’une EDXRF (Valérie, 2014)
Matériel et Méthodes
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III.7. Analyse des éléments de traces métalliques par La fluorescence à rayons X (XRF)
III.7.1. Présentation de l’appareil
La spectrométrie de fluorescence X est une technique d’analyse élémentaire globale non
destructive permettant d’identifier et de déterminer la plupart des éléments chimiques qui
composent un échantillon. Cette technique peut être utilisée pour des matériaux très variés :
minéraux, céramiques, ciments, métaux, huiles, eau, verres... sous forme solide ou liquide.
Elle permet l’analyse de tous les éléments chimiques du Béryllium (Be) à l’Uranium (U) dans des
gammes de concentrations allant jusqu’à quelques ppm à 100%, avec des résultats précis et surtout
reproductibles (Valérie, 2014).
Les systèmes de spectromètre à fluorescence sont généralement divisés en deux principaux
groupes, suivant le système de détection, en système à dispersion de longueur d'onde (WDXRF)
et en système à dispersion d'énergie (EDXRF) (Valérie, 2014).
Dans le cadre de notre étude on a utilisé la technique EDXRF.
III.7.2. Le principe de fonctionnement de la technique EDXRF
L'échantillon à analyser est placé sous un faisceau de rayons X émis par le tube à rayons X doté
d’une anode en argent. Sous l’effet de ces rayons X, les atomes constituant l’échantillon passent
de leur état fondamental à un état excité instable, les atomes tendent alors à revenir à l’état
fondamental en libérant de l’énergie, sous forme de photons X. Chaque atome, ayant une
configuration électronique propre, va émettre des photons d’énergie propres qui augmente avec
l’augmentation du numéro atomique de l’élément. Cette fluorescence est mesurée avec un
détecteur à dispersion d'énergie en fer de type SDD (Silicon Drift Detector) et les résultats sont
affichés sur un ordinateur relié à l’appareil (Valérie, 2014).
Schéma III-3: Principe de fonctionnement d’une EDXRF (Valérie, 2014)