PARTIE B
Matériel et Méthodes
62
oxydés. Elle est déterminée comme suit :
(
)
(12)
Où, PAF : perte au feu ; m1 : masse de creuset vide en g ; Pe : prise d’essai 2 g ; m3 : masse
après calcination (creuset + matière calcinée).
B. 3. 3. Détermination de la composition chimique par la fluorescence à
rayons X (XRF)
Les analyses ont été réalisées à l’aide du spectromètre à fluorescence X S8 TIGER de
Bruker (figure B. 14). L’analyse spectrométrique élémentaire par Fluorescence X est une
méthode qui permet l’analyse qualitative et quantitative d’un élément. Son principe est basé
sur la mesure de l’intensité de la radiation caractéristique de 1’élément à doser (Tertian R.,
1968). Lorsqu’un spécimen du disque de verre fusionné (perle), est irradié par un X de haute
énergie du faisceau de rayons, les éléments présents vont entrer dans un état excité. La
fluorescence X analyse le rayonnement émis par les atomes après cette excitation. Les
intensités sont mesurées par des détecteurs appropriés aux différentes longueurs d'onde par
élément (Camarillo R-D., 2007). Les concentrations des éléments sont déterminées en
rapportant le rayonnement mesuré de spécimens inconnus de courbes analytiques de XRF.
Figure B. 14 : Illustration des équipements de la fluorescence à rayons X
Matériel et Méthodes
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oxydés. Elle est déterminée comme suit :
(
)
(12)
Où, PAF : perte au feu ; m1 : masse de creuset vide en g ; Pe : prise d’essai 2 g ; m3 : masse
après calcination (creuset + matière calcinée).
B. 3. 3. Détermination de la composition chimique par la fluorescence à
rayons X (XRF)
Les analyses ont été réalisées à l’aide du spectromètre à fluorescence X S8 TIGER de
Bruker (figure B. 14). L’analyse spectrométrique élémentaire par Fluorescence X est une
méthode qui permet l’analyse qualitative et quantitative d’un élément. Son principe est basé
sur la mesure de l’intensité de la radiation caractéristique de 1’élément à doser (Tertian R.,
1968). Lorsqu’un spécimen du disque de verre fusionné (perle), est irradié par un X de haute
énergie du faisceau de rayons, les éléments présents vont entrer dans un état excité. La
fluorescence X analyse le rayonnement émis par les atomes après cette excitation. Les
intensités sont mesurées par des détecteurs appropriés aux différentes longueurs d'onde par
élément (Camarillo R-D., 2007). Les concentrations des éléments sont déterminées en
rapportant le rayonnement mesuré de spécimens inconnus de courbes analytiques de XRF.
Figure B. 14 : Illustration des équipements de la fluorescence à rayons X
