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Partie 2 • Méthodes spectrométriques
support
modèle à angle 30 °
modèle à angle 60 °
échantillon
échantillon
IR
IR
trajet optique
réflexion diffuse
porte-échantillon
vers le détecteur
source IR
miroir
éllipsoïdal
réflexion spéculaire
b
c
échantillon
IR
réflexion totale atténuée
cristal pyramidal
a
n1
n2
r
i
θ = 30°
réflexions multiples
sin r = (n /n )sin i
2 1
θc θc
h
L
d
L x d x h : 25 x 5 x 3 mm
exemple de cristal parallélépédique
ici, n > n
2
1
simple réflexion
ZnSe
diamant
poids
Figure 10.17 Accessoires permettant l’étude des échantillons par réflexion.
a) dispositifs ATR (réflexion totale atténuée) avec cristal pyramidal pour réflexions multiples et modèle à une seule réflexion pour micro-échantillons solides (l’application d’un
poids permet d’améliorer le contact de l’échantillon sur le cristal de forme arrondie). Formule de base et notion d’angle critique ; b) dispositif par réflexion spéculaire. Parcours
optique dans un dispositif à angle fixe de 30 ◦ pour les échantillons très réfléchissants
et de 60 ◦ dans le cas contraire ; c) schéma optique d’un dispositif pour réflexion diffuse
et dessin à vue d’une réalisation Spectra-Tech.