Chapitre II : Matériels et Méthodes
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utilisant une radiation monochromatique Kα de longueur d’onde λ = 1,5406 Å, sous une tension
de 45 kV et une intensité de 40 mA .
Les balayages ont été effectués dans la plage 2θ de 5,01 à 84,99 °, avec un pas de 0,02 ° et 1,8
s pour chaque étape. Les phases ont été identifiées à l'aide du logiciel Philips Highscore.
4.3. Mesure de la composition chimique par WDXRF
La fluorescence à rayons X (XRF) est une technique d'analyse non destructive qui peut être
utilisée pour déterminer la composition chimique d'une grande variété de types d'échantillons,
y compris les solides, les liquides, les boues et les poudres libres.
La fluorescence à rayons X fournit des informations qualitatives et quantitatives sur un
échantillon. Une combinaison simple d'informations sur la nature du contenu et les quantités
permet également une analyse rapide (semi-quantitative).
Les systèmes de spectromètre sont généralement divisés en deux groupes principaux : les
systèmes à dispersion de longueur d'onde (WDXRF) et les systèmes à dispersion d'énergie
(EDXRF). La différence entre les deux résulte dans le système de détection. Les points forts de
la spectrométrie WDXRF sont : la haute résolution, en particulier pour les éléments légers, les
limites de détection basses, en particulier pour les éléments légers et une analyse robuste avec
un rendement élevé.
La division des techniques nucléaires du CRNA a assurée l’analyse de quelques échantillons
de cette thèse par la WDXRF.
4.3.1. Principe de la technique
Le concept de base de tous les spectromètres est constitué des éléments suivants : une source
de rayonnement, un échantillon et un système de détection. Dans les spectromètres WDXRF,
le tube à rayons X, qui agit en tant que source, irradie directement un échantillon et la
fluorescence provenant de l'échantillon est mesurée avec un système de détection à dispersion
de longueur d'onde. Le rayonnement caractéristique provenant de chaque élément individuel
peut être identifié en analysant les cristaux qui séparent les rayons X en fonction de leur
longueur d'onde ou, inversement, de leurs énergies (Jenkins, 1999). La position des pics
renseigne sur la nature de l’élément (analyse qualitative) alors que son intensité permet de
quantifier la teneur de chaque élément (Bentahar, 2016).
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utilisant une radiation monochromatique Kα de longueur d’onde λ = 1,5406 Å, sous une tension
de 45 kV et une intensité de 40 mA .
Les balayages ont été effectués dans la plage 2θ de 5,01 à 84,99 °, avec un pas de 0,02 ° et 1,8
s pour chaque étape. Les phases ont été identifiées à l'aide du logiciel Philips Highscore.
4.3. Mesure de la composition chimique par WDXRF
La fluorescence à rayons X (XRF) est une technique d'analyse non destructive qui peut être
utilisée pour déterminer la composition chimique d'une grande variété de types d'échantillons,
y compris les solides, les liquides, les boues et les poudres libres.
La fluorescence à rayons X fournit des informations qualitatives et quantitatives sur un
échantillon. Une combinaison simple d'informations sur la nature du contenu et les quantités
permet également une analyse rapide (semi-quantitative).
Les systèmes de spectromètre sont généralement divisés en deux groupes principaux : les
systèmes à dispersion de longueur d'onde (WDXRF) et les systèmes à dispersion d'énergie
(EDXRF). La différence entre les deux résulte dans le système de détection. Les points forts de
la spectrométrie WDXRF sont : la haute résolution, en particulier pour les éléments légers, les
limites de détection basses, en particulier pour les éléments légers et une analyse robuste avec
un rendement élevé.
La division des techniques nucléaires du CRNA a assurée l’analyse de quelques échantillons
de cette thèse par la WDXRF.
4.3.1. Principe de la technique
Le concept de base de tous les spectromètres est constitué des éléments suivants : une source
de rayonnement, un échantillon et un système de détection. Dans les spectromètres WDXRF,
le tube à rayons X, qui agit en tant que source, irradie directement un échantillon et la
fluorescence provenant de l'échantillon est mesurée avec un système de détection à dispersion
de longueur d'onde. Le rayonnement caractéristique provenant de chaque élément individuel
peut être identifié en analysant les cristaux qui séparent les rayons X en fonction de leur
longueur d'onde ou, inversement, de leurs énergies (Jenkins, 1999). La position des pics
renseigne sur la nature de l’élément (analyse qualitative) alors que son intensité permet de
quantifier la teneur de chaque élément (Bentahar, 2016).