Chapitre II : Matériels et Méthodes
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Comme toute méthode, la DRX présente des avantages et quelques inconvénients. En effet,
l’analyse quantitative des minéraux est difficile à réaliser. L’analyse de nos échantillons a été
effectuée au niveau de la division des techniques nucléaires du CRNA.
4.2.1. Principe de la technique
Le principe de cette technique est basé sur la diffusion des rayons X par la matière. Ce
phénomène de diffusion est le résultat d’une interaction entre le faisceau de rayons X et la
matière. La propriété cristalline de cette dernière exige des directions privilégiées au faisceau
de rayons X incident (Bentahar, 2016).
Le processus de diffraction des rayons X par la matière est interprété par la loi de Bragg qui
consiste à déterminer les directions selon lesquelles les interférences des rayons diffusés sont
constructives (pics de diffractions). Cette loi est exprimée par l’équation suivante (Cullity et
Stock, 2014) :
2d’Sinθ =nλ (II.14)
où :
d’: est la distance inter-réticulaire exprimé en Å.
n : est le nombre entier correspondant à l’ordre de diffraction.
λ: est la longueur d’onde du rayonnement utilisé (nm) lié à la nature de l’anticathode.
θ: est l’angle de diffraction (º).
4.2.2. Appareillage
Le diffractomètre à rayons x utilisé lors de cette étude est de marque Philips X’Pert Pro
(Fig.II.25).
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Comme toute méthode, la DRX présente des avantages et quelques inconvénients. En effet,
l’analyse quantitative des minéraux est difficile à réaliser. L’analyse de nos échantillons a été
effectuée au niveau de la division des techniques nucléaires du CRNA.
4.2.1. Principe de la technique
Le principe de cette technique est basé sur la diffusion des rayons X par la matière. Ce
phénomène de diffusion est le résultat d’une interaction entre le faisceau de rayons X et la
matière. La propriété cristalline de cette dernière exige des directions privilégiées au faisceau
de rayons X incident (Bentahar, 2016).
Le processus de diffraction des rayons X par la matière est interprété par la loi de Bragg qui
consiste à déterminer les directions selon lesquelles les interférences des rayons diffusés sont
constructives (pics de diffractions). Cette loi est exprimée par l’équation suivante (Cullity et
Stock, 2014) :
2d’Sinθ =nλ (II.14)
où :
d’: est la distance inter-réticulaire exprimé en Å.
n : est le nombre entier correspondant à l’ordre de diffraction.
λ: est la longueur d’onde du rayonnement utilisé (nm) lié à la nature de l’anticathode.
θ: est l’angle de diffraction (º).
4.2.2. Appareillage
Le diffractomètre à rayons x utilisé lors de cette étude est de marque Philips X’Pert Pro
(Fig.II.25).