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19 • La réflectivité des rayons X
I( )
q
q
I 0
Figure 19.1 Représentation schématique de la réflexion d’un faisceau de rayons X sur une
surface plane. Le faisceau incident est d’intensité I 0 et le faisceau réfléchi d’intensité I(u)
La réflectivité, R(u), est donc définie par
R (u) =
I (u)
I 0
où I(u) est l’intensité réfléchie à l’angle u et I 0 est l’intensité du faisceau incident.
Il convient de noter que contrairement à l’usage en optique l’angle d’incidence u
est par définition l’angle que fait la surface de l’échantillon avec le faisceau direct.
Le plan d’incidence est le plan qui contient le faisceau incident et la normale à la
surface de l’échantillon. Alternativement la réflectivité est le plus souvent exprimée
en fonction du module du vecteur d’onde de transfert. Ce vecteur est par définition
le vecteur caractérisant la changement de vecteur d’onde à la réflexion donné par
q = k r − k inc
Pour un processus élastique (sans changement d’énergie) il y a conservation du
module des vecteurs d’onde k r = k inc =
2p
l
si bien que le module du vecteur
d’onde de transfert est égal à q = 4p sin u/l (voir figure 19.2).
θ
k inc
k
q k
k
=
− inc
r
r
Figure 19.2 Représentation du vecteur d’onde de transfert q.
On peut évidemment noter que la réflectivité peut aussi être représentée en fonction de la quantité s précédemment utilisée en cristallographie puisque s =
q
2 p
.
Pour déterminer la valeur de la réflectivité d’une surface, il faut maintenant comprendre comment se fait l’interaction de l’onde électromagnétique avec le matériau.
En particulier il convient de déterminer l’expression de l’indice de réfraction du milieu à la longueur d’onde des rayons X.
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