Chapitre 17
Techniques spéciales
Dans la seconde partie du manuel, nous avons exposé de façon détaillée les techniques classiques de la radiocristallographie. Nous présentons ici à titre d’information et de manière succincte des techniques qui supposent l’utilisation d’un appareillage spécial ou qui concernent des échantillons qui ne sont pas stricto sensu des
cristaux.
17.1 DIFFRACTION PAR DES STRUCTURES QUELCONQUES
Nous allons indiquer les principes de l’étude de la diffraction par les structures quelconques. Pour une étude détaillée de ce problème, qui sort du cadre de ce manuel,
on peut consulter par exemple « Théorie et technique de la radiocristallographie » de
A. Guinier.
17.1.1 Pouvoir diffusant
L’amplitude diffractée, dans une direction caractérisée par le vecteur S =
s − s 0
l
, est
la transformée de Fourier (TrF) de la densité électronique r(r) :
A(S) =
r(r) · e
−2jp·S·r
· dv r =
N
n=1
f n · e
−2jp·S·rn
(l’intégrale est étendue à tout l’espace objet.)
L’observable est toujours l’intensité qui est le carré du module de l’amplitude :
I N (S) = |A(S)|
2 . Pour un diffracteur composé de N objets (atomes, mailles) identiques, on définit un pouvoir diffusant unitaire : I(S) = I N (S)/N.