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A. CORNET et J.-P. DEVILLE
HV
B
F
0,Ol N
1 N
10N
3 0 N
1 O00 N
Nanoindentation
Microdureté
Dureté sous
charge réduite
Macrodureté
. - -
Fig. 2.33. Domaines de dureté et erreurs expérimentales (adapté de Bückle) ; AB désigne la
courbe théorique.
3.2. La nanoindentation
On change ici de méthode de mesure : a u lieu de s’intéresser à une empreinte
rémanente, on étudie la courbe donnant la force normale, F, en fonction de la profondeur de pénétration, h, à l’aide de dispositifs d’indentation munis de capteurs
permettant l’enregistrement en continu de la force et du déplacement. On a
d‘abord réalisé des microduromètres instrumentés mais leurs performances ont
rapidement élevé certains d’entre eux au rang de nanoindenteurs. Un de ces
appareils est présenté dans la section 3.1 du chapitre 5. Ses caractéristiques sont
les suivantes : domaine de charge de O à 100 mN avec une resolution de 0,5 pN,
mesure du déplacement de l’indenteur avec une résolution de 0,2 nm et une précision de l’ordre du nm, vitesse de mise en charge de l’ordre du nm.s-’. La
nanoindentation a été introduite a u début des années quatre-vingts par Pethica,
Hutchings et Oliver‘26).
(26) Pethica J.B., Hutchings R. et Oliver W.C., Hardness measurement at penetration
depth as small as 20 nm, Phil. M a g . A 48 (4) (1983) 593-606.
A. CORNET et J.-P. DEVILLE
HV
B
F
0,Ol N
1 N
10N
3 0 N
1 O00 N
Nanoindentation
Microdureté
Dureté sous
charge réduite
Macrodureté
. - -
Fig. 2.33. Domaines de dureté et erreurs expérimentales (adapté de Bückle) ; AB désigne la
courbe théorique.
3.2. La nanoindentation
On change ici de méthode de mesure : a u lieu de s’intéresser à une empreinte
rémanente, on étudie la courbe donnant la force normale, F, en fonction de la profondeur de pénétration, h, à l’aide de dispositifs d’indentation munis de capteurs
permettant l’enregistrement en continu de la force et du déplacement. On a
d‘abord réalisé des microduromètres instrumentés mais leurs performances ont
rapidement élevé certains d’entre eux au rang de nanoindenteurs. Un de ces
appareils est présenté dans la section 3.1 du chapitre 5. Ses caractéristiques sont
les suivantes : domaine de charge de O à 100 mN avec une resolution de 0,5 pN,
mesure du déplacement de l’indenteur avec une résolution de 0,2 nm et une précision de l’ordre du nm, vitesse de mise en charge de l’ordre du nm.s-’. La
nanoindentation a été introduite a u début des années quatre-vingts par Pethica,
Hutchings et Oliver‘26).
(26) Pethica J.B., Hutchings R. et Oliver W.C., Hardness measurement at penetration
depth as small as 20 nm, Phil. M a g . A 48 (4) (1983) 593-606.
