CHAPITRE 5 - MÉTHODES D'ANALYSE DE L'INGÉNIEUR DES SURFACES
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Longueur d'onde du rayonnement : on utilise u n rayonnement de longueur
d'onde suffisante pour ne pas exciter la fluorescence du matériau qui introduirait u n fond parasite prohibitif.
Par exemple, pour mesurer les contraintes sur le fer (A, , , ,
= O, 1937 nm) il est
préférable d'utiliser un tube à anode de chrome (AcrK, = 0,2291 nm) et non un
tube à anode de cuivre (AcuKa = O, 1542 nm).
Plans de diffraction : en différentiant la loi de Bragg on a :
Ad s i n 8 + d cos0A0 = O
1 A d
cotg0 d
A0 =
ou, étant donné que pour u n angle 8 le pic est à 20 :
2 &
2 Ad -
420 =
- -cotg0 d
cotg0
d -do
& = -
do
(5.5)
(5.6)
Pour obtenir le maximum de sensibilité, on doit utiliser les plans qui correspondent à une diffraction aux grands angles. Par exemple, pour le fer à l'état ferritique, on peut utiliser le plan (211) qui correspond, pour la radiation K a du
chrome, à un angle 20 de 156,20".
3.2.2. Determination des contraintes principales
La figure 5.34 représente les ellipsoïdes des contraintes et des déformations a la
surface d'un matériau.
F-_'surface non contrainte
-.. /
A
'. Surface contrainte
Fig. 5.34. Contraintes et deformations en surface.