CHAPITRE 5 - MÉTHODES D’ANALYSE DE L’INGÉNIEUR DES SURFACES
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qu’un élément léger donnant u n signal faible sera en sombre sur l’écran. Dans ce
cas, u n échantillon poli est le plus adéquat pour identifier a u mieux la source du
contraste, mais son emploi fait perdre l’avantage de l’analyse topographique.
Faisceau incident E,
- - - - - - - - - - -
Fig. 5.18. Interactions électron-matière utilisables en microscopie électronique.
2.2.3. Preparation des échantillons
Un des grands avantages du MEB est que la taille des échantillons peut aller de
quelques micromètres cubes à quelques centimètres cubes : la plupart du temps
on pourra donc étudier des échantillons bruts de provenance ou très représentatifs du matériau à analyser. En métallurgie, un polissage chimique préalable permet souvent de faire ressortir certaines structures, par exemple les joints de
grains. Dans tous les cas, pour pouvoir faire de bonnes images il convient de
s’assurer que trois conditions sont respectées :
1 . conductibilité électrique superficielle - il faut pouvoir écouler les charges
superficielles qui perturbent l’émission secondaire et déforment l’image. Si on
doit travailler avec des isolants, il faut a u préalable évaporer sur l’échantillon
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