Méthodes expérimentales de l’optique non linéaire
153
Ces mesures ont été effectuées en utilisant des polarisations des faisceaux test et pompe
linéaires et parallèles. Comme discuté avant, pour des polarisations croisées, l’anomalie due à
l’absorption à deux photons disparaît et seule celle due à l’absorption induite reste. Elle donne
lieu à un déplacement global de la relation de dispersion dans la région spectrale étudiée
ici [79]. Cet effet a aussi pu être étudié en fonction de l’intensité d’excitation.
6. CONCLUSION
Dans cet article j’ai passé en revue différentes techniques utilisées en spectroscopie non
linéaire. Je me suis largement appuyé sur des exemples venant du domaine de physique des
semi-conducteurs et des résultats obtenus dans notre équipe de recherche. Voulant être
illustratif, je n’ai pas cité le grand nombre de résultats originaux et importants obtenus par
d’autres équipes de recherche et je prie le lecteur de m’en excuser. Une bibliographie plus
équilibrée est présentée dans les différents articles de revue et livres cités ici.
J’espère avoir pu montrer la richesse que présente la spectroscopie non linéaire. Il ne faut
pas oublier, par contre, que chaque technique ne donne que des renseignements ponctuels sur
les propriétés d’un matériau et qu’il faut utiliser le plus grand nombre de techniques pour bien
le caractériser et faire la part entre ses propriétés extrinsèques et intrinsèques.
Références
[il Honerlage B., Lévy R., Grun J.B., Klingshim C. et Bohnert K., Phys. Rep. 124 (1985)
161 et références citées.
[2] Klingshim C.: “ Semiconductor Optics ”, Springer Verlag, Heidelberg (1995) et
références citées.
[3] Born M. etWolf E. : “ Principles of Optics ”, Pergamon, Oxford (1977).
[4] Masumoto Y., Unuma Y., Tanaka Y. et Shionoya S., J. Phys. Soc. Japan 47 (1979)
1844 ;
Masumoto Y., Unuma Y. et Shionoya S., J. Phys. Soc. Japan 49 Suppl. A (1980) 393.
[5] Reimann K. et Rübenacke St., Phys. Rev. B 49 (1994)11021.
[6] Frohlich D., Mohler E. et Wiesner P., Phys. Rev. Lett. 26 (1971) 554.
Staginnus B., Frohlich D. et Lapes T., Rev. Sci. Instr. 39 (1968) 1129.
[7] Frohlich D. et Nieswand W., Phil. Mug 70 (1994) 321.
[8] Grun J.B., Honerlage B. et Lévy R. dans Excitons, E.I. Rashba & M.D. Sturge, éditions
North Holland Publish. Comp. Amsterdam, (1982) p. 459.
[9] Vu Duy Phach, Bivas A., Honerlage B. et Grun J.B., Phys. Status Solidi (b) 86 (1978)
159.
[lo] Honerlage B., Vu Duy Phach, Bivas A. et Ostertag E., Phys. Status Solidi (b) 83 (1977)
101.
[ i l ] Itoh T., Suzuki T. et Ueta M., J. Phys. Soc. Japan 42 (1977) 1069.
.[12] Honerlage B., Bivas A. et Vu Duy Phach, Phys. Rev. Lett. 41 (1978) 49.
1131 Itoh T. et Suzuki T., J. Phys. Soc. Japan 45 (1978) 1939.
[ 141 Nagasawa N., Mita T. et Ueta M., J. Phys. Soc. Japan 41 (1976) 929.
[ 151 Ostertag E., Phys. Rev. Lett. 45 (1980) 372.
[16] Mita T., Satomé K. et Ueta M., Solid State Commun. 33 (1980) 1135.
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Ces mesures ont été effectuées en utilisant des polarisations des faisceaux test et pompe
linéaires et parallèles. Comme discuté avant, pour des polarisations croisées, l’anomalie due à
l’absorption à deux photons disparaît et seule celle due à l’absorption induite reste. Elle donne
lieu à un déplacement global de la relation de dispersion dans la région spectrale étudiée
ici [79]. Cet effet a aussi pu être étudié en fonction de l’intensité d’excitation.
6. CONCLUSION
Dans cet article j’ai passé en revue différentes techniques utilisées en spectroscopie non
linéaire. Je me suis largement appuyé sur des exemples venant du domaine de physique des
semi-conducteurs et des résultats obtenus dans notre équipe de recherche. Voulant être
illustratif, je n’ai pas cité le grand nombre de résultats originaux et importants obtenus par
d’autres équipes de recherche et je prie le lecteur de m’en excuser. Une bibliographie plus
équilibrée est présentée dans les différents articles de revue et livres cités ici.
J’espère avoir pu montrer la richesse que présente la spectroscopie non linéaire. Il ne faut
pas oublier, par contre, que chaque technique ne donne que des renseignements ponctuels sur
les propriétés d’un matériau et qu’il faut utiliser le plus grand nombre de techniques pour bien
le caractériser et faire la part entre ses propriétés extrinsèques et intrinsèques.
Références
[il Honerlage B., Lévy R., Grun J.B., Klingshim C. et Bohnert K., Phys. Rep. 124 (1985)
161 et références citées.
[2] Klingshim C.: “ Semiconductor Optics ”, Springer Verlag, Heidelberg (1995) et
références citées.
[3] Born M. etWolf E. : “ Principles of Optics ”, Pergamon, Oxford (1977).
[4] Masumoto Y., Unuma Y., Tanaka Y. et Shionoya S., J. Phys. Soc. Japan 47 (1979)
1844 ;
Masumoto Y., Unuma Y. et Shionoya S., J. Phys. Soc. Japan 49 Suppl. A (1980) 393.
[5] Reimann K. et Rübenacke St., Phys. Rev. B 49 (1994)11021.
[6] Frohlich D., Mohler E. et Wiesner P., Phys. Rev. Lett. 26 (1971) 554.
Staginnus B., Frohlich D. et Lapes T., Rev. Sci. Instr. 39 (1968) 1129.
[7] Frohlich D. et Nieswand W., Phil. Mug 70 (1994) 321.
[8] Grun J.B., Honerlage B. et Lévy R. dans Excitons, E.I. Rashba & M.D. Sturge, éditions
North Holland Publish. Comp. Amsterdam, (1982) p. 459.
[9] Vu Duy Phach, Bivas A., Honerlage B. et Grun J.B., Phys. Status Solidi (b) 86 (1978)
159.
[lo] Honerlage B., Vu Duy Phach, Bivas A. et Ostertag E., Phys. Status Solidi (b) 83 (1977)
101.
[ i l ] Itoh T., Suzuki T. et Ueta M., J. Phys. Soc. Japan 42 (1977) 1069.
.[12] Honerlage B., Bivas A. et Vu Duy Phach, Phys. Rev. Lett. 41 (1978) 49.
1131 Itoh T. et Suzuki T., J. Phys. Soc. Japan 45 (1978) 1939.
[ 141 Nagasawa N., Mita T. et Ueta M., J. Phys. Soc. Japan 41 (1976) 929.
[ 151 Ostertag E., Phys. Rev. Lett. 45 (1980) 372.
[16] Mita T., Satomé K. et Ueta M., Solid State Commun. 33 (1980) 1135.