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B. Honerlage
La mesure du temps T2 de déphasage se fait par extrapolation à intensité nulle des temps
de décroissance mesurés pour plusieurs intensités des faisceaux incidents, afin de s’affranchir
de l’effet d’intensité pour la détermination du temps de déphasage intrinsèque. Nous
présentons ici ces mesures pour l’échantillon contenant les nanocristaux de la plus petite taille
(A = 2,8 nm).
Les dynamiques du signal en fonction de l’intensité des faisceaux incidents sont
présentées sur la figure 48. À forte intensité d’excitation, le signal décroît très vite, du fait de
la forte densité de porteurs créés. Lorsqu’on diminue l’intensité d’excitation, la densité de
porteurs ou des phonons créés par l’excitation diminue d’autant : les processus de déphasage
par collisions entre porteurs deviennent moins probables et le temps de décroissance du signal
devient plus long.
delay (PSI
Figure 48 : Signai de mélange à quatre ondes en fonction du retard entre les impulsions pompes, pour différentes
intensités d’excitation, à 400 nm (3,091 eV).
Toutes ces décroissances sont ajustables, pour les retards supérieurs à 500 fs, par des
fonctions exponentielles décroissantes :
où yo est le niveau du bruit, T le retard entre les deux impulsions, TD la constante de
décroissance lente et A l’amplitude associée à cette décroissance.
La figure 49 représente l’évolution du temps T2 = 4TD. Étant donné que les transitions
sont élargies de façon inhomogène dans nos échantillons, la mesure de ce temps long nous
donne une mesure de Td4. Cependant, du fait de l’effet d’intensité décrit avant, il nous faut
extrapoler les mesures de TD à intensité nulle pour obtenir une valeur du temps de déphasage
intrinsèque du matériau :
yo + Ae-r’rD
(77)
L‘ajustement selon l‘équation 77 des résultats expérimentaux est présenté en trait plein
sur la figure 49. L‘extrapolation à intensité nulle du temps long de décroissance nous donne
alors la valeur T2 = 7 ps, pour l’échantillon contenant les nanocristaux de 2,8 nm de rayon
moyen.
B. Honerlage
La mesure du temps T2 de déphasage se fait par extrapolation à intensité nulle des temps
de décroissance mesurés pour plusieurs intensités des faisceaux incidents, afin de s’affranchir
de l’effet d’intensité pour la détermination du temps de déphasage intrinsèque. Nous
présentons ici ces mesures pour l’échantillon contenant les nanocristaux de la plus petite taille
(A = 2,8 nm).
Les dynamiques du signal en fonction de l’intensité des faisceaux incidents sont
présentées sur la figure 48. À forte intensité d’excitation, le signal décroît très vite, du fait de
la forte densité de porteurs créés. Lorsqu’on diminue l’intensité d’excitation, la densité de
porteurs ou des phonons créés par l’excitation diminue d’autant : les processus de déphasage
par collisions entre porteurs deviennent moins probables et le temps de décroissance du signal
devient plus long.
delay (PSI
Figure 48 : Signai de mélange à quatre ondes en fonction du retard entre les impulsions pompes, pour différentes
intensités d’excitation, à 400 nm (3,091 eV).
Toutes ces décroissances sont ajustables, pour les retards supérieurs à 500 fs, par des
fonctions exponentielles décroissantes :
où yo est le niveau du bruit, T le retard entre les deux impulsions, TD la constante de
décroissance lente et A l’amplitude associée à cette décroissance.
La figure 49 représente l’évolution du temps T2 = 4TD. Étant donné que les transitions
sont élargies de façon inhomogène dans nos échantillons, la mesure de ce temps long nous
donne une mesure de Td4. Cependant, du fait de l’effet d’intensité décrit avant, il nous faut
extrapoler les mesures de TD à intensité nulle pour obtenir une valeur du temps de déphasage
intrinsèque du matériau :
yo + Ae-r’rD
(77)
L‘ajustement selon l‘équation 77 des résultats expérimentaux est présenté en trait plein
sur la figure 49. L‘extrapolation à intensité nulle du temps long de décroissance nous donne
alors la valeur T2 = 7 ps, pour l’échantillon contenant les nanocristaux de 2,8 nm de rayon
moyen.