8.5 Aufgaben
423
Zeichen, die zur Absicherung bei der Datenübertragung benutzt werden und die
ebenfalls mit LFSR-Registern berechnet werden. Bei sicherheitskritischen Systemen
ist eine sorgfältige Analyse des Aliasings ratsam.
8.4.4 Erzeugung von Pseudozufalls-Testmustern
Bei Chips, die eine große Anzahl an Flipflops enthalten, kann das Hineinschieben
der Testmuster einige Zeit dauern. Der Vorgang der Erzeugung von Mustern auf dem
Chip kann durch die Integration von Hardware zur Testmustererzeugung auf dem
Chip beschleunigt werden. So können zum Beispiel Pseudozufallsmuster (die auch
von den LFSRs erzeugt werden) als Testmuster zum Einsatz kommen.
Beispiel 8.5: Wir können die Schaltung aus Abb. 8.7 wie in Abb. 8.8 gezeigt abändern. Diese Schaltung erzeugt alle möglichen Testmuster mit Ausnahme des Musters,
das ausschließlich aus Nullen besteht.
Abb. 8.8 Linear rückgekoppeltes Schieberegister zur Testmustererzeugung
∇
Ein Muster aus lauter Nullen muss vermieden werden, da ansonsten der Generator
anhält, wenn er das Muster erreicht. Die so erzeugten Muster untersuchen zu testende
Systeme meist sehr viel besser als einfache Zähler.
8.5 Aufgaben
Die folgenden Aufgaben sollten entweder zu Hause oder während einer Anwesenheitsphase nach dem flipped classroom-Konzept [376] bearbeitet werden:
8.1: Betrachten Sie die Schaltung in Abb. 8.2 und erzeugen Sie ein Testmuster für
einen stuck-at-0-Fehler beim Signal h.
8.2: Welches Zustandsdiagramm entspricht dem LFSR aus Abb. 8.9?
=1
Takt
4 Bit Schieberegister
423
Zeichen, die zur Absicherung bei der Datenübertragung benutzt werden und die
ebenfalls mit LFSR-Registern berechnet werden. Bei sicherheitskritischen Systemen
ist eine sorgfältige Analyse des Aliasings ratsam.
8.4.4 Erzeugung von Pseudozufalls-Testmustern
Bei Chips, die eine große Anzahl an Flipflops enthalten, kann das Hineinschieben
der Testmuster einige Zeit dauern. Der Vorgang der Erzeugung von Mustern auf dem
Chip kann durch die Integration von Hardware zur Testmustererzeugung auf dem
Chip beschleunigt werden. So können zum Beispiel Pseudozufallsmuster (die auch
von den LFSRs erzeugt werden) als Testmuster zum Einsatz kommen.
Beispiel 8.5: Wir können die Schaltung aus Abb. 8.7 wie in Abb. 8.8 gezeigt abändern. Diese Schaltung erzeugt alle möglichen Testmuster mit Ausnahme des Musters,
das ausschließlich aus Nullen besteht.
Abb. 8.8 Linear rückgekoppeltes Schieberegister zur Testmustererzeugung
∇
Ein Muster aus lauter Nullen muss vermieden werden, da ansonsten der Generator
anhält, wenn er das Muster erreicht. Die so erzeugten Muster untersuchen zu testende
Systeme meist sehr viel besser als einfache Zähler.
8.5 Aufgaben
Die folgenden Aufgaben sollten entweder zu Hause oder während einer Anwesenheitsphase nach dem flipped classroom-Konzept [376] bearbeitet werden:
8.1: Betrachten Sie die Schaltung in Abb. 8.2 und erzeugen Sie ein Testmuster für
einen stuck-at-0-Fehler beim Signal h.
8.2: Welches Zustandsdiagramm entspricht dem LFSR aus Abb. 8.9?
=1
Takt
4 Bit Schieberegister