Chapitre 3 ETUDE SEDIMENTOLOGIQUE
L’enregistrement des spectres et l’identification qualitative des phases minéralogiques
ont été effectués sur ce logiciel à partir de la comparaison entre les spectres (les diffractogrammes) traités des échantillons avec des fiches (des phases minéralogiques) connues à
partir des bases de données existantes.
La suite Highscore avec l’option Plus est le logiciel d’analyse de diffraction de la
poudre commerciale de Panalytical. Il a été en développement constant dans ses dernières
versions et est devenu un produit très complet et mature. Dans le même temps, un nombre
croissant de modèles de référence pour l’identification de phase ont été complétés en
ajoutant des données de structure cristalline, et des modèles de poudre de référence
calculés à partir de données de structure monocristalline remplissaient rapidement les
bases de données.
L’utilisateur peut effectuer l’identification sur la base des positions des pics (espacement
d et intensités relatives) et/ou sur la base du profil net complet du motif expérimental.
Cependant, souvent la combinaison des deux méthodes obtient les meilleurs résultats,
couvrant les phases majeures et mineures. Cela signifie que le logiciel moderne d’analyse
des modèles de poudre doit non seulement traiter les pics, le fond, le profil et les données
de référence, mais doit également gérer les structures cristallines, prendre en charge les
transformations des groupes spatiaux et toutes sortes d’ajustements, et devrait faciliter
les méthodes associées telles que l’analyse de la microstructure.
3.3.8 Quantification des phases avec des structures cristallines partiellement
connues ou inconnues
La méthode classique de Rietveld peut traiter une large gamme de matériaux en utilisant les informations sur la structure cristalline connue. Cependant, cela devient plus
difficile lorsque ces matériaux contiennent des phases cristallines avec des structures
cristallines inconnues, ou lorsqu’ils contiennent même des phases totalement amorphes.
Pour quantifier ces phases, une méthode alternative complétant l’approche classique de
Rietveld est nécessaire. L’idée est de caractériser de tels matériaux, un par un avec un
standard cristallin bien connu. Cette caractérisation est effectuée avec une cellule unitaire
décrivant une phase cristalline inconnue, ce qui nécessite une indexation préalable. Alternativement, elle est réalisée avec une cellule unitaire arbitraire décrivant l’ensemble du
profil d’une phase amorphe. Cette méthode a été décrite pour la première fois par [151]
et est maintenant implémentée dans HighScore Plus.
Ensuite la Régression partielle des moindres carrés (PLSR) est une méthode d’exploration de données populaire avec de nombreuses applications diverses. Comme ajouté dans
130
L’enregistrement des spectres et l’identification qualitative des phases minéralogiques
ont été effectués sur ce logiciel à partir de la comparaison entre les spectres (les diffractogrammes) traités des échantillons avec des fiches (des phases minéralogiques) connues à
partir des bases de données existantes.
La suite Highscore avec l’option Plus est le logiciel d’analyse de diffraction de la
poudre commerciale de Panalytical. Il a été en développement constant dans ses dernières
versions et est devenu un produit très complet et mature. Dans le même temps, un nombre
croissant de modèles de référence pour l’identification de phase ont été complétés en
ajoutant des données de structure cristalline, et des modèles de poudre de référence
calculés à partir de données de structure monocristalline remplissaient rapidement les
bases de données.
L’utilisateur peut effectuer l’identification sur la base des positions des pics (espacement
d et intensités relatives) et/ou sur la base du profil net complet du motif expérimental.
Cependant, souvent la combinaison des deux méthodes obtient les meilleurs résultats,
couvrant les phases majeures et mineures. Cela signifie que le logiciel moderne d’analyse
des modèles de poudre doit non seulement traiter les pics, le fond, le profil et les données
de référence, mais doit également gérer les structures cristallines, prendre en charge les
transformations des groupes spatiaux et toutes sortes d’ajustements, et devrait faciliter
les méthodes associées telles que l’analyse de la microstructure.
3.3.8 Quantification des phases avec des structures cristallines partiellement
connues ou inconnues
La méthode classique de Rietveld peut traiter une large gamme de matériaux en utilisant les informations sur la structure cristalline connue. Cependant, cela devient plus
difficile lorsque ces matériaux contiennent des phases cristallines avec des structures
cristallines inconnues, ou lorsqu’ils contiennent même des phases totalement amorphes.
Pour quantifier ces phases, une méthode alternative complétant l’approche classique de
Rietveld est nécessaire. L’idée est de caractériser de tels matériaux, un par un avec un
standard cristallin bien connu. Cette caractérisation est effectuée avec une cellule unitaire
décrivant une phase cristalline inconnue, ce qui nécessite une indexation préalable. Alternativement, elle est réalisée avec une cellule unitaire arbitraire décrivant l’ensemble du
profil d’une phase amorphe. Cette méthode a été décrite pour la première fois par [151]
et est maintenant implémentée dans HighScore Plus.
Ensuite la Régression partielle des moindres carrés (PLSR) est une méthode d’exploration de données populaire avec de nombreuses applications diverses. Comme ajouté dans
130