Chapitre III: Matériels et Méthodes
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varie plus guère à partir d’une certaine valeur de V (voisine de 3
dans le cas du
cuivre). Ce rapport vaut environ, pour V= 40 kV, 38 % pour le tungstène, et 72 % pour le
chrome.
Figure 24: Tube à rayon X (Centre SPIN)
24.2. La porte-échantillon (Despujols, 2000) doit permettre le passage, éventuellement
automatique, d’un échantillon à un autre.
24.3. Système dispersif, détecteur et électronique de mesure (Despujols, 2000)
Le cristal analyseur est en général plan (spectromètre de Bragg) ; il est interchangeable, le
fluorure de lithium est très souvent employé, ainsi que certains cristaux organiques [PET
(pentaérythritol), KAP (phtalate acide de potassium)] ; les systèmes multicouches sont utiles
pour l’analyse des éléments légers et très légers.
L’électronique de mesure constitue un sous-ensemble comprenant les alimentations des
compteurs, les organes de traitement des impulsions (préamplification, discrimination