MATERIEL ET METHODES
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II.3.2 Autres techniques de caractérisation
II.3.2.1 La spectrométrie de fluorescence X
La spectrométrie de fluorescence des rayons X à dispersion de longueurs d'ondes (EDXRF) est une technique d'analyse multi-élémentaire non destructive permettant d’identifier et de
déterminer avec précision la composition chimique globale d'un échantillon. Son domaine
d'analyse s'étend du bore (N=5) à l'uranium (N=92), à des concentrations atteignant quelques
ppm à 100%. Elle présente les avantages de la simplicité de la préparation des échantillons, la
rapidité des analyses, et surtout une bonne reproductibilité.
Cette technique est basée sur le principe (Annexe03) suivant : l’échantillon à analyser est
bombardé par un faisceau de rayons X (primaires) qui excite chaque atome des différents
constituants, ce qui se traduit par un arrachement d’électrons au cœur des atomes (près du
noyau). L'atome se retrouve ainsi ionisé. Un électron d'une couche périphérique va venir
combler la place de l'électron ionisé. Cet électron dit électron secondaire va perdre de
l'énergie, sous la forme de photon (rayons X), ayant une énergie qui lui est propre, et donc
caractéristique. C’est cet effet photoélectrique, qui conduit au phénomène de "fluorescence".
L’analyse de ce rayonnement X secondaire permet à la fois de connaître la nature des
éléments chimiques présents dans un échantillon ainsi que leur concentration massique
(Valérie, 2014).
Figure II.7: Chambre de ED-XRF
Figure II.8: Capsule contenant
l’échantillon à analyser
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II.3.2 Autres techniques de caractérisation
II.3.2.1 La spectrométrie de fluorescence X
La spectrométrie de fluorescence des rayons X à dispersion de longueurs d'ondes (EDXRF) est une technique d'analyse multi-élémentaire non destructive permettant d’identifier et de
déterminer avec précision la composition chimique globale d'un échantillon. Son domaine
d'analyse s'étend du bore (N=5) à l'uranium (N=92), à des concentrations atteignant quelques
ppm à 100%. Elle présente les avantages de la simplicité de la préparation des échantillons, la
rapidité des analyses, et surtout une bonne reproductibilité.
Cette technique est basée sur le principe (Annexe03) suivant : l’échantillon à analyser est
bombardé par un faisceau de rayons X (primaires) qui excite chaque atome des différents
constituants, ce qui se traduit par un arrachement d’électrons au cœur des atomes (près du
noyau). L'atome se retrouve ainsi ionisé. Un électron d'une couche périphérique va venir
combler la place de l'électron ionisé. Cet électron dit électron secondaire va perdre de
l'énergie, sous la forme de photon (rayons X), ayant une énergie qui lui est propre, et donc
caractéristique. C’est cet effet photoélectrique, qui conduit au phénomène de "fluorescence".
L’analyse de ce rayonnement X secondaire permet à la fois de connaître la nature des
éléments chimiques présents dans un échantillon ainsi que leur concentration massique
(Valérie, 2014).
Figure II.7: Chambre de ED-XRF
Figure II.8: Capsule contenant
l’échantillon à analyser