Le schéma suivant décrit la façon dont un échantillon est analysé selon cette technique.
Résolution
du spectre
Échantillon
2. Longueurs d’onde typiques des éléments usuels
Les longueurs d ’onde suivantes, données en nm, sont généralement notées
et
car
elles correspondent à l’excitation initiale d ’un électron de la couche K.
Élément
B
C
N
O
F
Ne
Na
Mg
Al
Si
Longueur
d’onde
6,76
4,47
3,16
2,36
1,83
1,47
1,19
0,99
0,83
0,71
Élément
P
S
Cl
Ti
V
Cr
Mn
Fe
Ni
Zn
Longueur
d’onde
0,62
0,54
0,47
0,27
0,25
0,23
0,21
0,19
0,17
0,14
3. Intérêt de cette technique
Il existe des appareils de mesure portables d’utilisation très pratique pour détecter les
éléments au cours de mesures préliminaires. On l’utilise par exemple pour la détection
de traces de plomb dans les peintures ou dans les minéraux. Les géologues utilisent
également ce type d’appareil pour l’analyse rapide des échantillons. Des mesures quantitatives précises nécessitent des calibrages préalables et ne peuvent être effectuées que
sur des appareils plus élaborés, au laboratoire.
T J
c
O = =
C
Q 'îi
2
^
fM
I
(y) .1
-4-' a
-C -3
CT s
‘l- &
â ï
< 3 ^
Q
Il faut noter que cette technique ne détmit pas significativement l’échantillon examiné
et peut donc être utilisée pour l’analyse des œuvres d’art.
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