10 • Spectrométrie du moyen et du proche infrarouge
189
intensité (unités arbitraires)
1 cm
60
80
40
100
20
nombre d'onde (cm )
-1
0
5000
10000
15000
spectre d'une source SiC
enregistrée avec un détecteur DTGS
T = 1273 K
Figure 10.13 Spectre d’émission typique d’une source du moyen infrarouge et dessin d’une source
simple.
En pointillés est représentée la courbe théorique d’émission d’une source parfaite
(rayonnement du corps noir, à la température de 1 000 ◦ C). Suivant le modèle de source,
de séparatrice, de détecteur, on enregistre une courbe expérimentale de réponse qui diffère sensiblement de la courbe théorique. On remarquera en particulier qu’entre 4 000
et 400 cm −1 . L’intensité lumineuse est divisée par un facteur de 10 environ. Les sources
ont une durée de vie de plusieurs années.
détecteur pyroélectrique
détecteur à semi-conducteur
rayon . IR
t
rayon . IR
t
cristal
face noircie
ddp sortie
ddp sortie
semi-conducteur
support
(quartz)
tension (bias)
fenêtre
élement
sensible
1-3 mm
R
connexions
support
quartz
électrodes
1
2
3
4
5
40
µm
DTGS
MCT
PbS
0,2 0,6
support
Figure 10.14 Détecteurs dans l’infrarouge.
Principe de fonctionnement des détecteurs pyroélectrique et à semi-conducteur. Au
centre, aspect général du détecteur et de son boîtier. En bas, plage d’utilisation des
principaux détecteurs.
10.9 EXAMEN DES ÉCHANTILLONS
Les spectres sont acquis à partir d’échantillons observés soit par transmission, soit par réflexion. Ce second procédé, devenu courant dans l’infrarouge est à l’origine de plusieurs
techniques pour l’examen de toutes sortes d’échantillons solides, gazeux et de solutions
aqueuses.
10.9.1 Matériaux optiques
Les matériaux optiques traditionnels utilisés dans le visible ou le proche infrarouge deviennent opaques dans le moyen infrarouge. Pour les parois des cellules ou les fenêtres des
© Dunod – La photocopie non autorisée est un délit
Précédent

- 208/481

Suivant