106 Chap. 4. Ondes et vibrations mécaniques
Encart 4.9 Le microscope àforce atomique
Le microscope àforce atomique (AFM, AtomicF orce Microscope en anglais)
estu ni nstrument de mesuree td ’analyse des surfaces avec une résolution
proche de la taille d’un atome. Il n’utilisep as l’optique comme un microscope classique maisl ’interactione ntre la pointed ’une sonde et lesa tomes
de la surface àv isualiser.L ap ointee st fixée au bout d’une poutre et la fréquence de vibrationdecette poutre (del’ordre de 100 kHz) dépend de la force
d’interactionetdonc de la distance entre la pointeetlasurface.
Avec un dispositif de balayage (déplacement surdeux axes) et un dispositif de
rétroactionpour maintenir la sonde àdistance constante de la surface, on peut
cartographier la topographiedelasurface àl’échelle atomique.
4.4.4 Ondes progressives d’une poutre
Si la poutre est suffisament longue (c’est-à-dire L x
√ S ), on peut chercher pour
l’équation(4.35) des solutions en onde progressive du type
y = Ae
i ( kx− v t )
.
La relationdedispersionest alors
v = c c r g k
2
et le systèmeest dispersif:lavitesse de phase v f = c c r g k dépend de k .
Encart 4.10 Vibration des planchers
Lorsdelaconceptiond’unbâtiment,les fréquences de vibrationdes planchers
doivent être estimées pour éviterl es problèmes de résonance, par exemple
avec une machine tournanteoutout simplement avec lespas des usagers. Les
planchersétant en général posés sur des poutresdesections normalisées, on
peut calculer lesfréquences propres de vibrationdes poutres.
Le confort d’utilisation d’un plancher estd éfini paru ne limite d’accélérationacceptable. Pour lesfréquences inférieures à10Hz, une accélérationde
0,1 m · s
− 2
est perceptible.Elle devient gênanteau-delàde0,4 m · s
− 2
.
Encart 4.9 Le microscope àforce atomique
Le microscope àforce atomique (AFM, AtomicF orce Microscope en anglais)
estu ni nstrument de mesuree td ’analyse des surfaces avec une résolution
proche de la taille d’un atome. Il n’utilisep as l’optique comme un microscope classique maisl ’interactione ntre la pointed ’une sonde et lesa tomes
de la surface àv isualiser.L ap ointee st fixée au bout d’une poutre et la fréquence de vibrationdecette poutre (del’ordre de 100 kHz) dépend de la force
d’interactionetdonc de la distance entre la pointeetlasurface.
Avec un dispositif de balayage (déplacement surdeux axes) et un dispositif de
rétroactionpour maintenir la sonde àdistance constante de la surface, on peut
cartographier la topographiedelasurface àl’échelle atomique.
4.4.4 Ondes progressives d’une poutre
Si la poutre est suffisament longue (c’est-à-dire L x
√ S ), on peut chercher pour
l’équation(4.35) des solutions en onde progressive du type
y = Ae
i ( kx− v t )
.
La relationdedispersionest alors
v = c c r g k
2
et le systèmeest dispersif:lavitesse de phase v f = c c r g k dépend de k .
Encart 4.10 Vibration des planchers
Lorsdelaconceptiond’unbâtiment,les fréquences de vibrationdes planchers
doivent être estimées pour éviterl es problèmes de résonance, par exemple
avec une machine tournanteoutout simplement avec lespas des usagers. Les
planchersétant en général posés sur des poutresdesections normalisées, on
peut calculer lesfréquences propres de vibrationdes poutres.
Le confort d’utilisation d’un plancher estd éfini paru ne limite d’accélérationacceptable. Pour lesfréquences inférieures à10Hz, une accélérationde
0,1 m · s
− 2
est perceptible.Elle devient gênanteau-delàde0,4 m · s
− 2
.