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14 • Diffraction des neutrons et des électrons
– Comme la longueur d’onde l est très faible devant les distances interréticulaires,
on peut assimiler sin u à u. L’expression de la loi de Bragg devient :
2 · u · d hkl = n · l
Les angles de diffraction valent quelques degrés.
– Le rayon de la sphère d’Ewald (OI sur la figure 14.3) est très grand par rapport aux
vecteurs de base de la maille réciproque. On peut assimiler la sphère à son plan
tangent et utiliser un film plan comme détecteur.
– En transmission, l’épaisseur de l’échantillon doit être très faible à cause de l’absorption : il y a un relâchement important des conditions de Laue dans la direction
normale au plan de l’échantillon. Si le faisceau est parallèle à la rangée directe
[uvw], le diagramme reproduit le plan réciproque (uvw)
∗ qui passe par l’origine.
Les taches de ce plan, caractérisées par le vecteur S = IP, correspondent aux réflexions h, k, l telles que : h · u + k · v + l · w = 0.
La figure de diffraction est la projection gnomonique du plan réciproque contenant
l’origine.
– Comme il est possible d’obtenir les diagrammes de diffraction de micro-cristaux,
on peut utiliser cette technique pour analyser finement des échantillons polycristallins.
– À cause de l’absorption les techniques de diffraction des électrons à basse énergie
sont uniquement utilisables pour les études de surfaces.
Le système de diffraction des électrons en lumière parallèle est en général couplé
à un système d’imagerie (microscope électronique à transmission). On sélectionne
en mode imagerie les microcristaux et on analyse ensuite leurs figures de diffraction
( figure 14.4).
Figure 14.4 Schémas de principe d’un microscope électronique à transmission
et du dispositif de diffraction.
14 • Diffraction des neutrons et des électrons
– Comme la longueur d’onde l est très faible devant les distances interréticulaires,
on peut assimiler sin u à u. L’expression de la loi de Bragg devient :
2 · u · d hkl = n · l
Les angles de diffraction valent quelques degrés.
– Le rayon de la sphère d’Ewald (OI sur la figure 14.3) est très grand par rapport aux
vecteurs de base de la maille réciproque. On peut assimiler la sphère à son plan
tangent et utiliser un film plan comme détecteur.
– En transmission, l’épaisseur de l’échantillon doit être très faible à cause de l’absorption : il y a un relâchement important des conditions de Laue dans la direction
normale au plan de l’échantillon. Si le faisceau est parallèle à la rangée directe
[uvw], le diagramme reproduit le plan réciproque (uvw)
∗ qui passe par l’origine.
Les taches de ce plan, caractérisées par le vecteur S = IP, correspondent aux réflexions h, k, l telles que : h · u + k · v + l · w = 0.
La figure de diffraction est la projection gnomonique du plan réciproque contenant
l’origine.
– Comme il est possible d’obtenir les diagrammes de diffraction de micro-cristaux,
on peut utiliser cette technique pour analyser finement des échantillons polycristallins.
– À cause de l’absorption les techniques de diffraction des électrons à basse énergie
sont uniquement utilisables pour les études de surfaces.
Le système de diffraction des électrons en lumière parallèle est en général couplé
à un système d’imagerie (microscope électronique à transmission). On sélectionne
en mode imagerie les microcristaux et on analyse ensuite leurs figures de diffraction
( figure 14.4).
Figure 14.4 Schémas de principe d’un microscope électronique à transmission
et du dispositif de diffraction.