Table des matières
XV
16.5.3 Assemblage de polyèdres par une face (NiAs)
219
CHAPITRE 17 • TECHNIQUES SPÉCIALES
221
17.1 Diffraction par des structures quelconques
221
17.1.1 Pouvoir diffusant
221
17.1.2 Intensité diffractée
222
17.1.3 Intensité diffractée par un objet homogène illimité
223
17.1.4 Intensité diffractée par un objet homogène limité
223
17.1.5 Formule de Debye
224
17.1.6 Diffraction des rayons X par les corps amorphes
225
17.2 EXAFS
227
17.2.1 Principe
227
17.2.2 Formule de Stern
227
17.2.3 Dispositif expérimental
228
17.2.4 Analyse des spectres EXAFS
228
17.2.5 Applications
229
17.3 Spectrométrie d’émission, fluorescence X
230
17.3.1 Principe et appareillage
230
17.3.2 Fluorescences primaires et secondaires
231
17.3.3 Analyse quantitative
232
CHAPITRE 18 • CALCULS EN CRISTALLOGRAPHIE
234
18.1 Les notions de base
235
18.1.1 Les repères cristallographiques
235
18.1.2 Représentation des rotations
238
18.1.3 Génération des positions équivalentes
239
18.1.4 Calcul des facteurs de structure
240
18.2 Affinement des structures
241
18.2.1 Méthode des moindres carrés
241
18.2.2 Les programmes de détermination des structures
242
18.2.3 Le programme SHELX
243
CHAPITRE 19 • LA RÉFLECTIVITÉ DES RAYONS X
245
19.1 Introduction
245
19.1.1 Définition de la réflexion spéculaire
245
19.1.2 Indice de réfraction
247
19.1.3 Angle critique de réflexion totale
249
19.2 Réflectivité de Fresnel
250
19.2.1 Rappels des relations de Fresnel
250
19.2.2 Cas des rayons X
253
XV
16.5.3 Assemblage de polyèdres par une face (NiAs)
219
CHAPITRE 17 • TECHNIQUES SPÉCIALES
221
17.1 Diffraction par des structures quelconques
221
17.1.1 Pouvoir diffusant
221
17.1.2 Intensité diffractée
222
17.1.3 Intensité diffractée par un objet homogène illimité
223
17.1.4 Intensité diffractée par un objet homogène limité
223
17.1.5 Formule de Debye
224
17.1.6 Diffraction des rayons X par les corps amorphes
225
17.2 EXAFS
227
17.2.1 Principe
227
17.2.2 Formule de Stern
227
17.2.3 Dispositif expérimental
228
17.2.4 Analyse des spectres EXAFS
228
17.2.5 Applications
229
17.3 Spectrométrie d’émission, fluorescence X
230
17.3.1 Principe et appareillage
230
17.3.2 Fluorescences primaires et secondaires
231
17.3.3 Analyse quantitative
232
CHAPITRE 18 • CALCULS EN CRISTALLOGRAPHIE
234
18.1 Les notions de base
235
18.1.1 Les repères cristallographiques
235
18.1.2 Représentation des rotations
238
18.1.3 Génération des positions équivalentes
239
18.1.4 Calcul des facteurs de structure
240
18.2 Affinement des structures
241
18.2.1 Méthode des moindres carrés
241
18.2.2 Les programmes de détermination des structures
242
18.2.3 Le programme SHELX
243
CHAPITRE 19 • LA RÉFLECTIVITÉ DES RAYONS X
245
19.1 Introduction
245
19.1.1 Définition de la réflexion spéculaire
245
19.1.2 Indice de réfraction
247
19.1.3 Angle critique de réflexion totale
249
19.2 Réflectivité de Fresnel
250
19.2.1 Rappels des relations de Fresnel
250
19.2.2 Cas des rayons X
253