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A. CORNET et J.-P. DEVILLE
On montre que cette valeur de la tension superficielle subsiste lors des
remises à l'air des échantillons traités, ce qui tend à établir que la surface obtenue a été correctement modifiée.
5.3. Étude microscopique de la surface modifiée
Deux méthode^"^) sont particulièrement utiles pour l'étude microscopique de la
modification de surface : la spectroscopie de masse d'ions secondaires avec analyse en temps de vol : ToF-SIMS (voir Chap. 5, Sect. 6.4.3) qui permet d'obtenir
des renseignements chimiques et conformationnels sur l'extrême surface et la
photoémission induite par les rayons X (ESCA-XPS) qui indique l'évolution de la
composition chimique et des diverses liaisons. Dans le cas du ToF-SIMS, la
figure 7.28 montre l'évolution de l'ion positif C,H50+ qui rend compte du
contenu oxygéné de la surface.
L'interprétation des résultats rend observable, dès les premiers stades du
traitement, l'apparition de liaisons non saturées et de reticulation du Nylon
caractérisée par l'augmentation du rapport xC8/cC2 (somme des ions contenant 8 atomes de carbonelsomme des ions contenant 2 atomes de carbone). L a
fonctionnalisation est de type alcool, ester et carbonyle.
2 4 l
- 2 I
I 1 1 1 1 l 1 1
I
I 1 1 1 1 1 1 1
I
I I I I 1 1 1 1
I
I l I I I I I
1019
1 OZ'
1 O Z '
i 023
Dose (at.cm-2)
Fig. 7.28. Évolution en fonction de la dose en oxygène atomique de l'ion positif C, H, O'
(15) Léonard D. et al., Time of flight SIMS and in situ XPS study of O, and O,-N, postdischarge microwave plasma-modified high-density polyethylene and hexatriacontane surfaces, J. Adh. Sci. Technol. 1 0 (1996) 1165-1197.
A. CORNET et J.-P. DEVILLE
On montre que cette valeur de la tension superficielle subsiste lors des
remises à l'air des échantillons traités, ce qui tend à établir que la surface obtenue a été correctement modifiée.
5.3. Étude microscopique de la surface modifiée
Deux méthode^"^) sont particulièrement utiles pour l'étude microscopique de la
modification de surface : la spectroscopie de masse d'ions secondaires avec analyse en temps de vol : ToF-SIMS (voir Chap. 5, Sect. 6.4.3) qui permet d'obtenir
des renseignements chimiques et conformationnels sur l'extrême surface et la
photoémission induite par les rayons X (ESCA-XPS) qui indique l'évolution de la
composition chimique et des diverses liaisons. Dans le cas du ToF-SIMS, la
figure 7.28 montre l'évolution de l'ion positif C,H50+ qui rend compte du
contenu oxygéné de la surface.
L'interprétation des résultats rend observable, dès les premiers stades du
traitement, l'apparition de liaisons non saturées et de reticulation du Nylon
caractérisée par l'augmentation du rapport xC8/cC2 (somme des ions contenant 8 atomes de carbonelsomme des ions contenant 2 atomes de carbone). L a
fonctionnalisation est de type alcool, ester et carbonyle.
2 4 l
- 2 I
I 1 1 1 1 l 1 1
I
I 1 1 1 1 1 1 1
I
I I I I 1 1 1 1
I
I l I I I I I
1019
1 OZ'
1 O Z '
i 023
Dose (at.cm-2)
Fig. 7.28. Évolution en fonction de la dose en oxygène atomique de l'ion positif C, H, O'
(15) Léonard D. et al., Time of flight SIMS and in situ XPS study of O, and O,-N, postdischarge microwave plasma-modified high-density polyethylene and hexatriacontane surfaces, J. Adh. Sci. Technol. 1 0 (1996) 1165-1197.