CHAPITRE 5 - MÉTHODES D’ANALYSE DE L’INGÉNIEUR DES SURFACES
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Tube RX
Compteur ~
tournant à mi-vitesse
Fig. 5.30. Goniomètre 820 utilise pour la diffraction dite des poudres.
Si la loi de Bragg est vérifiée pour une famille de plans {hkf} équidistants de
do, on remarque que seuls les plans parallèles à la surface (cristaux A et B) peuvent donner lieu à une diffraction. Pour observer cette diffraction sur le cristal C,
il faut tourner le matériau d u n angle y ; en faisant varier y on peut amener tous
les cristaux de la surface ou de son voisinage dans les conditions de Bragg.
Les contraintes superficielles modifient les distances interréticulaires (loi de
Hooke) ; cette modification, qui dépend de l’orientation des cristaux par rapport
à la surface, se traduit par un décalage du pic de diffraction (Fig. 5.32).
En faisant varier y on mesure d,,, sur des cristaux plus ou moins contraints
et on peut facilement comprendre qu’il est possible de déduire les contraintes de
la variation de d,,, en fonction de y. La distance interréticulaire est la jauge de
mesure des déformations. La mesure n’est possible que si le matériau diffracte
correctement : petits grains orientés aléatoirement (absence de texture, anneaux
de diffraction non ponctués).
Fig. 5.31. Surface non contrainte
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tournant à mi-vitesse
Fig. 5.30. Goniomètre 820 utilise pour la diffraction dite des poudres.
Si la loi de Bragg est vérifiée pour une famille de plans {hkf} équidistants de
do, on remarque que seuls les plans parallèles à la surface (cristaux A et B) peuvent donner lieu à une diffraction. Pour observer cette diffraction sur le cristal C,
il faut tourner le matériau d u n angle y ; en faisant varier y on peut amener tous
les cristaux de la surface ou de son voisinage dans les conditions de Bragg.
Les contraintes superficielles modifient les distances interréticulaires (loi de
Hooke) ; cette modification, qui dépend de l’orientation des cristaux par rapport
à la surface, se traduit par un décalage du pic de diffraction (Fig. 5.32).
En faisant varier y on mesure d,,, sur des cristaux plus ou moins contraints
et on peut facilement comprendre qu’il est possible de déduire les contraintes de
la variation de d,,, en fonction de y. La distance interréticulaire est la jauge de
mesure des déformations. La mesure n’est possible que si le matériau diffracte
correctement : petits grains orientés aléatoirement (absence de texture, anneaux
de diffraction non ponctués).
Fig. 5.31. Surface non contrainte