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A. CORNET et J.-P. DEVILLE
S(0)DL :
SEM :
SERS :
SFA :
SIMS :
SNMS :
SNOM :
B :
STEM :
STM :
TEM :
TLK :
- ToF :
TPD :
UPS :
U v l v i s :
m:
WDS :
XANES :
XAS :
Spectroscopie (optique) à décharge luminescente (voir GDL]
(voir MEB)
Surface enhanced Raman spectroscopy
Duusion Raman exaltée de surface
Surface force apparatus
Machine de force
Secondary ion mass spectroscopy
Spectroscopie de masse d’ions secondaires
Secondary neutral ion mass spectroscopy
Spectroscopie de masse de neutres secondaires
Scanning near field optical microscopy
Microscope à champ proche optique
Synchrotron radiation
Rayonnement synchrotron
Scanning transmission electron microscopy
Microscopie électronique à balayage en transmission
Scanning tunneling microscopy
Microscopie à eflet tunnel
Transmission electron microscopy
Microscopie électronique à transmission
Terrace, ledge, kink
Terrasse, gradin, cran
Time offright
Temps de vol
Temperature programmed desorption
Désorption thermique programmée en temperature
Ultraviolet photoelectron spectroscopy
Spectroscopie de photoélectrons induits par les W
üïtravioletlvisible
Wl visible
Very f a r ultraviolet
Ultraviolet lointain
Wavelength dispersive spectrometer
Spectromètre à dispersion de longueur d’onde
X-ray absorption near edge structure
Absorption X au voisinage des seuils
X-ray absorption spectroscopy
Spectroscopie d’absorption X