CHAPITRE 4 - BASES PHYSIQUES DE L’ANALYSE DES SURFACES
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L a partie imaginaire 0 dépend du coefficient d’absorption massique du matéDans le cas du fer pur et d u rayonnement K a , du cuivre on a :
riau, pour la longueur d’onde considérée.
n = 1 -
(22,4 k i 2,97)
Conformément à la loi de Descartes-Snell, on peut observer (Fig. 4.6) des phénomènes de réflexion et de réfraction. Notons que, dans le cas des rayons X, la
mesure des angles se fait par rapport à la surface et non par rapport à sa
normale.
Faisceau
Fig. 4.6. Optique des rayons X.
Pour u n angle critique ac (quelques dizièmes de degrés), défini par :
e 2 N Z p A
n m c 2 M
cos ac = n ou ac = fis=
la majeure partie de l’intensité est réfléchie, le reste se propage, sous forme
d u n e onde évanescente, dans une couche d’épaisseur Lmin :
‘min =
(4.9)
Tableau 4. 111. Quelques valeurs d’angles d’incidence critique ac (valeurs en degrés).
Rayonnement X utilise
A = 0,154 nm
Éithent
CrKrr
Cu&
MOKlY
A = 0,229 nm
A = 0,071 nm
Au
C
Cu
Mo
Si
0,85
0,27
0,62
0,65
0,33
0,57
0,18
0,41
0,43
0,22
0,26
0,oa
0,19
0,20
0,lO