Sachverzeichnis
463
Dispatcher, 327
display, 196
Distributed Operation Layer (DOL), 369, 372
DO-178B, 304
DO-254, 304
DSP, 165, 167
dynamic scheduling (of instrutions), 45, 174
Dynamische Leistungsverwaltung (DPM), 409
Dynamische Spannungsskalierung (DVS), 162,
405, 406
Earliest Deadline First (EDF), 238, 329, 332,
343, 375
Earliest Due Date (EDD), 331
Echtzeit
-CORBA, 255
-POSIX, 255
Echtzeitbetriebssystem, 28, 224, 226, 228, 391
Echtzeitdatenbanken, 256
Echtzeitfähigkeit, 169
Echtzeitkern, 228
Echtzeitverhalten, 190
eCos, 224
ECU, 323
Effizienz, 36, 190
Codegrößen-~, 162
Laufzeit-~, 16, 165, 187
Eingabe, 34, 36, 40, 41, 56, 66, 70, 110, 122
eingebettetes System, 2, 9, 20, 28, 32, 60, 131,
134, 141, 223, 321, 379, 413
Elektromagnetische Kompatibilität (EMC),
314
Emulation, 315
Endlicher Automat, 39, 44, 53, 55, 58, 69, 135,
317
Energie, 14, 15, 157, 163, 170, 206, 283, 286,
294, 323, 370, 384, 393, 399, 409
Energieeffizienz, 158, 186, 211
Energieerzeugung, 207
Energiemodell, 283, 393
Energiequelle, 143
Energiespeicher, 143
energy, 15, 19, 318
energy awareness, 211
energy efficiency, 158, 186, 211
energy harvesting, 207
entirely time triggered (TT systems), 327
Entwurf für Testbarkeit, 419
Entwurfsfluss, 23, 142, 262, 322
Entwurfsphasen
frühe ~, 45
Entwurfsziel, 323
EPIC, 170
Ereignis, 34, 84, 86, 116
diskretes ~, 96
sporadisches ~, 346
Erfüllbarkeit, 373
ERIKA, 240
error, 306
Estelle, 74
Esterel, 67
European Installation Bus (EIB), 195
European Train Control System (ETCS), 5
Evaluierung, 261
evolutionärer Algorithmus, 371, 373
extreme value theory (EVT), 273
Extremwerttheorie, 273
F-measure, 283
F1 score, 283
failure, 306
Failure Mode and Effect Analysis (FMEA), 313
Failure unIT (FIT), 308
False Negative (FN), 282
fault, 306
fault tree, 312
Fehler, 306
-überdeckung, 417
-injektion, 418
-modell, 415
-simulation, 417
-toleranz, 191
Fehlerbaumanalyse, 312
Feldtest, 413
Fertigungsanlagen, 5
Festkommaarithmetik, 169
Field Programmable Gate Array (FPGA), 181,
369
field test, 413
FIFO, 74, 76
in SDL, 70
finishing time, 325
Finite State Machine (FSM), 68
FIT, 308
flash memory, 248
Flash-Speicher, 402
FlexRay ™ , 218
Fließband-A/D-Wandler, 154
flipped classroom, 21, 29, 135, 216, 318, 375,
410, 423
Folien, 21
formale Verifikation, 316
Fourier-Approximation, 146
Fouriersches Gesetz, 295
FPGA, 316, 369
G-EDF, 353
G-RM, 356
463
Dispatcher, 327
display, 196
Distributed Operation Layer (DOL), 369, 372
DO-178B, 304
DO-254, 304
DSP, 165, 167
dynamic scheduling (of instrutions), 45, 174
Dynamische Leistungsverwaltung (DPM), 409
Dynamische Spannungsskalierung (DVS), 162,
405, 406
Earliest Deadline First (EDF), 238, 329, 332,
343, 375
Earliest Due Date (EDD), 331
Echtzeit
-CORBA, 255
-POSIX, 255
Echtzeitbetriebssystem, 28, 224, 226, 228, 391
Echtzeitdatenbanken, 256
Echtzeitfähigkeit, 169
Echtzeitkern, 228
Echtzeitverhalten, 190
eCos, 224
ECU, 323
Effizienz, 36, 190
Codegrößen-~, 162
Laufzeit-~, 16, 165, 187
Eingabe, 34, 36, 40, 41, 56, 66, 70, 110, 122
eingebettetes System, 2, 9, 20, 28, 32, 60, 131,
134, 141, 223, 321, 379, 413
Elektromagnetische Kompatibilität (EMC),
314
Emulation, 315
Endlicher Automat, 39, 44, 53, 55, 58, 69, 135,
317
Energie, 14, 15, 157, 163, 170, 206, 283, 286,
294, 323, 370, 384, 393, 399, 409
Energieeffizienz, 158, 186, 211
Energieerzeugung, 207
Energiemodell, 283, 393
Energiequelle, 143
Energiespeicher, 143
energy, 15, 19, 318
energy awareness, 211
energy efficiency, 158, 186, 211
energy harvesting, 207
entirely time triggered (TT systems), 327
Entwurf für Testbarkeit, 419
Entwurfsfluss, 23, 142, 262, 322
Entwurfsphasen
frühe ~, 45
Entwurfsziel, 323
EPIC, 170
Ereignis, 34, 84, 86, 116
diskretes ~, 96
sporadisches ~, 346
Erfüllbarkeit, 373
ERIKA, 240
error, 306
Estelle, 74
Esterel, 67
European Installation Bus (EIB), 195
European Train Control System (ETCS), 5
Evaluierung, 261
evolutionärer Algorithmus, 371, 373
extreme value theory (EVT), 273
Extremwerttheorie, 273
F-measure, 283
F1 score, 283
failure, 306
Failure Mode and Effect Analysis (FMEA), 313
Failure unIT (FIT), 308
False Negative (FN), 282
fault, 306
fault tree, 312
Fehler, 306
-überdeckung, 417
-injektion, 418
-modell, 415
-simulation, 417
-toleranz, 191
Fehlerbaumanalyse, 312
Feldtest, 413
Fertigungsanlagen, 5
Festkommaarithmetik, 169
Field Programmable Gate Array (FPGA), 181,
369
field test, 413
FIFO, 74, 76
in SDL, 70
finishing time, 325
Finite State Machine (FSM), 68
FIT, 308
flash memory, 248
Flash-Speicher, 402
FlexRay ™ , 218
Fließband-A/D-Wandler, 154
flipped classroom, 21, 29, 135, 216, 318, 375,
410, 423
Folien, 21
formale Verifikation, 316
Fourier-Approximation, 146
Fouriersches Gesetz, 295
FPGA, 316, 369
G-EDF, 353
G-RM, 356