Introduction à l’analyse de surfaces et interfaces
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En pratique, on constate rapidement qu’il faut optimiser les paramètres et faire
un compromis pour arriver au but. On y reviendra à la fin de ce chapitre lors de la
comparaison des méthodes au chapitre 8. Le tableau 1.2 permet de classer les
méthodes d’analyse. Il consiste en une liste des méthodes selon les processus primaires et secondaires possibles contenant les acronymes dont les définitions se
trouvent dans le tableau de l’Annexe 1. On constate qu’il y a un grand nombre de
méthodes à disposition. Les méthodes décrites et/ou mentionnées dans les paragraphes suivants sont en gras.
Tableau 1.2 Tableau de comparaison des méthodes d’analyse de surface pour divers sondes
d’entrée et sondes de sortie utilisant une radiation électro-magnétique hv, des électrons e, des particules neutres ou ionisées, des phonons (vibrations), forces électriques E ou magnétiques M ,
la variation de la température T ou les forces atomique F .
sonde d’entrée
sonde de sortie
h ν
e –
neutres
i ±
phonons
E / M / T / F
h ν
ELL
EXAFS
ESR
FTIR
MOSS
NMR
RAMAN
SEM
XRD
ESCA/XPS
SEXAFS
UPS
XAES
LMP
LAMMA
MALDI
e –
EM
AES/SAM
EELS
LEED
RHEED
SEM
STEM
ESDN
ESDI
neutres
NIRS
FAB
i ±
PIXE
GDOES
GDMS
IMMA
ISS
NRA
RBS
SIMS
SNMS
phonons
ES
TE
FD
ASW
SAM
E / M / T / F
EL
SNOM
STM
FEM
FDM
FIM
AFM
CPD
SC
MFM
SNTM