Sondes nanométriques
133
Il s’agit de mesurer et de contrôler l’interaction entre les derniers atomes d’une
pointe et les atomes de la surface avec une résolution verticale comprise entre
l’Ångstrom et plusieurs dizaines de nanomètres. La résolution latérale dépend de la
forme et de la précision de la pointe. Elle varie entre 50 à 100 nm. Ce n’est pas seulement le courant en STM ou les différentes forces (atomiques, magnétiques, électriques...) qui sont mesuré(e)s. L’utilisation des photons (lumière) et de phonons
(température) commence à gagner du terrain. Conçues originalement comme outils
de microscope, les sondes SPM sont déjà appliquées dans d’autres domaines. Dans
le futur, on assistera à une continuation du développement de la nanotechnologie
avec une fonctionnalisation de pointes et une modification des surfaces.
7.10 EXERCICES
7.10.1 Quel est l’ordre de grandeur des forces F N typiquement appliquées en AFM?
7.10.2 Décrire les modes de travail appliqués en AFM.
7.10.3 Quelles sont les résolutions verticales et latérales d’un STM?
7.10.4 Comparer la limite de la résolution d’un AFM avec la distance entre deux
atomes d’un cristal de Si.
7.10.5 Les techniques SPM nécessitent-elles un système de vide?
7.11 BIBLIOGRAPHIE
Générale
D.A. BONNELL (Ed.), Scanning Tunnelling Microscopy and Spectroscopy, VCH Verlagsgesellschaft,
Weinheim, 1993.
S.N. MAGONOV et M.-H. WHANGBO, Surface Analysis with STM and AFM, VCH-Wiley, Weinheim,
1996.
R. WIESENDANGER et H.-J. GÜNTHERODT, (Eds.), «Scanning Tunneling Microscopy I-III», Springer
Series in Surface Science, vol. 20-28-29, Berlin, 1992, 1995, 1996.
C. BAI, «Scanning Tunneling Microscopy and its Application», Springer Series in Surface Science,
32, Berlin, 1995.
J.N. ISRAELACHVILI, Intermolecular and Surface Forces, 2 nd ed, Academic Press, New York, 1992.
Références
[7.1] G. BINNIG et H. ROHRER, Helvetica Physica Acta 55, 726, 1982.
[7.2] G. BINNIG, C.F. QUATE et C. GERBER, Phys. Rev. Lett. 56, 930, 1986.
[7.3] J. TERSOFF et D.R. HAMANN, Phys. Rev. B31, 805, 1985.
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Il s’agit de mesurer et de contrôler l’interaction entre les derniers atomes d’une
pointe et les atomes de la surface avec une résolution verticale comprise entre
l’Ångstrom et plusieurs dizaines de nanomètres. La résolution latérale dépend de la
forme et de la précision de la pointe. Elle varie entre 50 à 100 nm. Ce n’est pas seulement le courant en STM ou les différentes forces (atomiques, magnétiques, électriques...) qui sont mesuré(e)s. L’utilisation des photons (lumière) et de phonons
(température) commence à gagner du terrain. Conçues originalement comme outils
de microscope, les sondes SPM sont déjà appliquées dans d’autres domaines. Dans
le futur, on assistera à une continuation du développement de la nanotechnologie
avec une fonctionnalisation de pointes et une modification des surfaces.
7.10 EXERCICES
7.10.1 Quel est l’ordre de grandeur des forces F N typiquement appliquées en AFM?
7.10.2 Décrire les modes de travail appliqués en AFM.
7.10.3 Quelles sont les résolutions verticales et latérales d’un STM?
7.10.4 Comparer la limite de la résolution d’un AFM avec la distance entre deux
atomes d’un cristal de Si.
7.10.5 Les techniques SPM nécessitent-elles un système de vide?
7.11 BIBLIOGRAPHIE
Générale
D.A. BONNELL (Ed.), Scanning Tunnelling Microscopy and Spectroscopy, VCH Verlagsgesellschaft,
Weinheim, 1993.
S.N. MAGONOV et M.-H. WHANGBO, Surface Analysis with STM and AFM, VCH-Wiley, Weinheim,
1996.
R. WIESENDANGER et H.-J. GÜNTHERODT, (Eds.), «Scanning Tunneling Microscopy I-III», Springer
Series in Surface Science, vol. 20-28-29, Berlin, 1992, 1995, 1996.
C. BAI, «Scanning Tunneling Microscopy and its Application», Springer Series in Surface Science,
32, Berlin, 1995.
J.N. ISRAELACHVILI, Intermolecular and Surface Forces, 2 nd ed, Academic Press, New York, 1992.
Références
[7.1] G. BINNIG et H. ROHRER, Helvetica Physica Acta 55, 726, 1982.
[7.2] G. BINNIG, C.F. QUATE et C. GERBER, Phys. Rev. Lett. 56, 930, 1986.
[7.3] J. TERSOFF et D.R. HAMANN, Phys. Rev. B31, 805, 1985.