Sondes nanométriques
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régime du champ proche. Pour générer une image à haute résolution, il faut placer
l’échantillon dans les limites du champs proche, d’où vient le nom de la méthode
SNOM. L’avantage de cette méthode est le fait qu’elle est non invasive et applicable aux conducteurs et isolants, particulièrement aux échantillons biologiques.
Quatre modes d’utilisation du SNOM existent:
• mode illumination: c’est la configuration la plus courante qui utilise la
sonde optique comme source nanométrique et qui récolte le signal transmis
ou réfléchi;
• mode collection: on utilise la sonde optique pour collecter la lumière, soit en
mode transmission, soit en mode réflexion [7.10];
• mode sans aperture: dans cette configuration on utilise une sonde nanométrique – usuellement un levier AFM – induisant un champ optique confiné;
dans cette situation, il s’agit ensuite de séparer le signal champ proche du
signal de fond (champ lointain);
• mode PSTM (Photon Scanning Tunneling Microscope): cette mode utilise la
sonde optique pour coupler et mesurer le champ évanescent résultant de la
réflexion interne totale; par analogie au STM, on parle alors d’effet tunnel
sur les photons.
7.8.3 AFM comme rugosimètre
L’utilisation d’un AFM pour mettre en évidence un changement de topographie est illustrée par la figure 7.16. Elle montre une image AFM de l’Ag avant (fig.
7.16(a)) et après (fig. 7.16(b)) un décapage ionique qui illustre l’augmentation de la
rugosité suite à un bombardement ionique.
1000
500
0
0
[nm]
5
10
15
20
25
5
10
15
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0
µm
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10
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0
µm
µm
0
Fig. 7.16 (a) AFM – couche d’argent sans décapage ionique, rugosité R a = 62 nm; (b) AFM – couche
d’argent après une heure de décapage ionique de 1,25 µm de profondeur, rugosité R a = 216 nm – dose
ionique 2 keV Ar + 1,2 · 10 19 ions/cm 2 .
(a)
(b)
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régime du champ proche. Pour générer une image à haute résolution, il faut placer
l’échantillon dans les limites du champs proche, d’où vient le nom de la méthode
SNOM. L’avantage de cette méthode est le fait qu’elle est non invasive et applicable aux conducteurs et isolants, particulièrement aux échantillons biologiques.
Quatre modes d’utilisation du SNOM existent:
• mode illumination: c’est la configuration la plus courante qui utilise la
sonde optique comme source nanométrique et qui récolte le signal transmis
ou réfléchi;
• mode collection: on utilise la sonde optique pour collecter la lumière, soit en
mode transmission, soit en mode réflexion [7.10];
• mode sans aperture: dans cette configuration on utilise une sonde nanométrique – usuellement un levier AFM – induisant un champ optique confiné;
dans cette situation, il s’agit ensuite de séparer le signal champ proche du
signal de fond (champ lointain);
• mode PSTM (Photon Scanning Tunneling Microscope): cette mode utilise la
sonde optique pour coupler et mesurer le champ évanescent résultant de la
réflexion interne totale; par analogie au STM, on parle alors d’effet tunnel
sur les photons.
7.8.3 AFM comme rugosimètre
L’utilisation d’un AFM pour mettre en évidence un changement de topographie est illustrée par la figure 7.16. Elle montre une image AFM de l’Ag avant (fig.
7.16(a)) et après (fig. 7.16(b)) un décapage ionique qui illustre l’augmentation de la
rugosité suite à un bombardement ionique.
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Fig. 7.16 (a) AFM – couche d’argent sans décapage ionique, rugosité R a = 62 nm; (b) AFM – couche
d’argent après une heure de décapage ionique de 1,25 µm de profondeur, rugosité R a = 216 nm – dose
ionique 2 keV Ar + 1,2 · 10 19 ions/cm 2 .
(a)
(b)