Matériel et méthode
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Tableau 18 : limites de détection par le spectromètre d’émission à plasma (JY32)
C (ng/ml)
Elément
1
Ba,Be,Ca,Mg,Mn,Sr,Ti,V,Zn
01-05
Ag,Cd,Cr,Cu,Fe,Li,Mo,Zr
05-10
Al, Bi, Co, Hf, Ru, Si, Th
10-20
As, K, Nb, Ni, P, Se, Sn, W
20-50
Na, Ta, Y
50-100
U
Ces limites fines détections ne peuvent être atteintes que si les conditions d’analyses,
paramètres analytiques et environnement de l’équipement, sont adéquates.
V-3 -1-2-Le principe :
Une radiation haute fréquence (générateur) est utilisée pour chauffer un courant
d’argon et former un plasma par l’intermédiaire d’une bobine d’induction. La
température atteinte varie entre 5000 et 10000K. L’échantillon induit dans le plasma
est réduit à l’état d’atomes indépendants. Ces atomes, excités par le plasma,
réémettent l’énergie (ΔE) qu’ils ont acquise sous forme d’un rayonnement
électromagnétique. Cette variation d’énergie ΔE va subir des conversons successives
en signaux : photomultiplicateurs, intégrateurs, compteurs, blocs électronique et
informatique.
ΔE= h*γ = h*c/λ (Ǻ)
h : constante de Plank (4.119 10
-18 keV. s)
c : vitesse de la lumière (3 10
8 m/s)
γ : fréquence (Htz)
V-3-2- Validation des modèles de la cinétique d’adsorption :
L’applicabilité d’un modèle de cinétique pour décrire le processus d’adsorption a été
déterminé selon le coefficient de corrélation R², mais aussi par la NSD (Normalized
Standard Deviation) et l’ARE (Average Relative Error). Ces erreurs ont été calculées
comme suit :