Matériel et Méthodes
Chapitre II : Méthodes
39
2.2. Méthoe de quantification des métaux lourds
Le dosage de certains métaux traces se fait par spectrométrie d'absorption atomique (Niosh,
1985 ; AFNOR) ou d'émission atomique couplée par induction à une torche plasma (Niosh, 1985)
(Chiffoleau, et al., 2002). (Voir annexe II-2-1)
2.2.1. La Spectrométrie d’Emission Atomique Couplée par Induction à une
Torche Plasma (ICP-AES)
(Inductively Coupled Plasma-Atomic Emission Spectrometry)
2.2.1.1.
Définition :
La spectrométrie d’émission à plasma est une technique physico-chimique d’analyse quantitative et
semi-quantitative des échantillons organiques et inorganiques, soit prélevés tels quels (milieu
aqueux), soit obtenus après extractions spécifiques de matériaux solides (analyses des roches,
sédiments et végétaux). On utilise fréquemment le terme ICP (Inductively Coupled Plasma).
Dans la pratique l’analyse par spectrométrie d’émission à plasma disponible dans le laboratoire du
CRNA, peut être effectuée de deux manières différentes :
Analyses séquentielle, élément par élément,
Analyse simultanée permettant de doser la quasi-totalité des éléments simultanément
(37 éléments).
2.2.1.2.
Le spectromètre :
L’appareil est un spectromètre d’émission à plasma (JY32) de marque française, Jobin Ivon.
Le principal point fort de JY32 est d’être pratiquement insensible aux effets de matrice.
L’appareil est doté d’un réseau holographique original de 3600 tr/min, spécialement conçu pour
travailler dans l’UV lointain. Il dispose à la fois d’une haute résolution et d’un domaine spectral très
étendu qui varie entre 1700 Ǻ. L’appareil peut analyser 37 éléments par une méthode de mesure
résumée (en annexe II-2-2), dont les limites de détection sont consignées dans le tableau 16 :
Tableau 16 : Limites de détection des éléments par ICP
C (ng/ml)
Elément
1
Ba,Be,Ca,Mg,Mn,Sr,Ti,V,Zn
01-05
Ag,Cd,Cr,Cu,Fe,Li,Mo,Zr
05-10
Al, Bi, Co, Hf, Ru, Si, Th
10-20
As, K, Nb, Ni, P, Se, Sn, W
20-50
Na, Ta, Y
50-100
U
Ces limites fines détections ne peuvent être atteintes que si les conditions d’analyses, paramètres
analytiques et environnement de l’équipement, sont adéquates.
Chapitre II : Méthodes
39
2.2. Méthoe de quantification des métaux lourds
Le dosage de certains métaux traces se fait par spectrométrie d'absorption atomique (Niosh,
1985 ; AFNOR) ou d'émission atomique couplée par induction à une torche plasma (Niosh, 1985)
(Chiffoleau, et al., 2002). (Voir annexe II-2-1)
2.2.1. La Spectrométrie d’Emission Atomique Couplée par Induction à une
Torche Plasma (ICP-AES)
(Inductively Coupled Plasma-Atomic Emission Spectrometry)
2.2.1.1.
Définition :
La spectrométrie d’émission à plasma est une technique physico-chimique d’analyse quantitative et
semi-quantitative des échantillons organiques et inorganiques, soit prélevés tels quels (milieu
aqueux), soit obtenus après extractions spécifiques de matériaux solides (analyses des roches,
sédiments et végétaux). On utilise fréquemment le terme ICP (Inductively Coupled Plasma).
Dans la pratique l’analyse par spectrométrie d’émission à plasma disponible dans le laboratoire du
CRNA, peut être effectuée de deux manières différentes :
Analyses séquentielle, élément par élément,
Analyse simultanée permettant de doser la quasi-totalité des éléments simultanément
(37 éléments).
2.2.1.2.
Le spectromètre :
L’appareil est un spectromètre d’émission à plasma (JY32) de marque française, Jobin Ivon.
Le principal point fort de JY32 est d’être pratiquement insensible aux effets de matrice.
L’appareil est doté d’un réseau holographique original de 3600 tr/min, spécialement conçu pour
travailler dans l’UV lointain. Il dispose à la fois d’une haute résolution et d’un domaine spectral très
étendu qui varie entre 1700 Ǻ. L’appareil peut analyser 37 éléments par une méthode de mesure
résumée (en annexe II-2-2), dont les limites de détection sont consignées dans le tableau 16 :
Tableau 16 : Limites de détection des éléments par ICP
C (ng/ml)
Elément
1
Ba,Be,Ca,Mg,Mn,Sr,Ti,V,Zn
01-05
Ag,Cd,Cr,Cu,Fe,Li,Mo,Zr
05-10
Al, Bi, Co, Hf, Ru, Si, Th
10-20
As, K, Nb, Ni, P, Se, Sn, W
20-50
Na, Ta, Y
50-100
U
Ces limites fines détections ne peuvent être atteintes que si les conditions d’analyses, paramètres
analytiques et environnement de l’équipement, sont adéquates.