Chapitre III: Matériels et Méthodes
[52]
Les spectromètres à dispersion de longueur d’onde comprennent (figure 23) (Despujols,
2000) :
- Une source de rayonnement X primaire ;
- Un porte échantillon ;
- Un système dispersif à cristal ;
- Un détecteur ;
- L’électronique et l’informatique associées.
Figure 23: Constitution d’un spectromètre de fluorescence X séquentiel à dispersion en
longueur d’onde (Despujols, 2000)
La longueur d’onde et l’angle de diffraction sont reliés par la loi de Bragg :
nλ = 2 d sinθ
(36)
n : ordre de diffraction
λ : longueur d’onde (Å)
d : distance interreticulaire (Å)
θ : l’angle de diffraction (Bragg) en degré
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Les spectromètres à dispersion de longueur d’onde comprennent (figure 23) (Despujols,
2000) :
- Une source de rayonnement X primaire ;
- Un porte échantillon ;
- Un système dispersif à cristal ;
- Un détecteur ;
- L’électronique et l’informatique associées.
Figure 23: Constitution d’un spectromètre de fluorescence X séquentiel à dispersion en
longueur d’onde (Despujols, 2000)
La longueur d’onde et l’angle de diffraction sont reliés par la loi de Bragg :
nλ = 2 d sinθ
(36)
n : ordre de diffraction
λ : longueur d’onde (Å)
d : distance interreticulaire (Å)
θ : l’angle de diffraction (Bragg) en degré
